Linseis DIL Dilatometre Sistemleri
Dilatometre, bir malzemenin sıcaklıkla birlikte boyunda meydana gelen değişimi ölçer; ısıl genleşme katsayısı (CTE), sinterleme davranışı, yumuşama noktası ve faz dönüşümleri bu tek ölçümden elde edilir. Linseis DIL ailesi −263 °C ile 2800 °C arasında çalışan dokuz farklı kurulum sunar; numunenizin gerektirdiği sıcaklık, atmosfer ve hassasiyete göre uygun konfigürasyonu seçebilirsiniz.
Linseis’in 1957’den bu yana termal analiz cihazlarında edindiği deneyim, bugünün laboratuvarlarının beklediği üç şeyi bir arada karşılar: ölçümün gerçek proses koşullarında yapılabilmesi, operatör yükünün azaltılması ve sonucun tekrarlanabilir olması. Otomatik numune boyu algılama, kuvvet modülasyonu ve hız kontrollü sinterleme gibi özellikler daha önce manuel yapılan ayarları cihaza devreder; ölçümler arasında ‰0,01 tekrarlanabilirlik bu sayede elde edilir.
Ürün Özellikleri
Linseis dilatometre ailesi tek bir ölçüm prensibinin dokuz farklı konfigürasyonda gerçekleştirilmesini barındırır: itme çubuklu (push-rod) sistemler, temassız optik ölçüm, lazer interferometre ve indüksiyon ısıtmalı su verme dilatometreleri.
DIL L75 Horizontal / Vertical
Ailenin en geniş çalışma aralığına sahip modeli. Konfigürasyona bağlı olarak yatay kurulumda −180 °C’den, dikey kurulumda −263 °C’den başlayarak 2800 °C’ye kadar ölçüm yapılır; dikey konfigürasyon kriyojenik sıcaklıklara uzanarak süperiletken ve düşük sıcaklık malzemelerinin çalışılmasına imkân verir. İki ölçüm sistemi sunulur: LVDT 0,03 nm çözünürlükle ±2500 µm aralığında, optik enkoder 0,1 nm çözünürlükle ±25000 µm aralığında çalışır. Büyük sinterleme büzülmelerinde optik enkoder, numuneyi yeniden konumlandırma ihtiyacını ortadan kaldırır.
- Otomatik numune boyu algılama ve kuvvet modülasyonu standart
- Kullanıcının değiştirebildiği SiO₂, Al₂O₃ ve grafit numune tutucular
- Yüksek vakum sızdırmazlığı; inert, oksitleyici ve indirgeyici atmosferler
- ΔL/L₀ tekrarlanabilirliği ‰0,01, doğruluğu ‰0,02
DIL L75 Quattro
Dört bağımsız ölçüm sensörüyle dört numuneyi aynı anda, aynı sıcaklık programı altında ölçer. Kalite kontrolde kafile içi karşılaştırma gerektiğinde dört numunenin aynı fırın geçmişini paylaşması ölçümler arası sapmayı ortadan kaldırır; aynı sürede tamamlanan ölçüm sayısı da dörde çıkar.
DIL L73 Laser
Lazer interferometre ile ölçüm yapan bu model, düşük genleşmeli malzemelerde — cam seramikler, Invar tipi alaşımlar, optik altlıklar — nanometre mertebesindeki boy değişimlerini 0,3 nm çözünürlükle ayırt eder. Ölçüm temassız yapıldığı için yumuşak ve kırılgan numuneler ölçüm boyunca kendi hâlinde kalır.
DIL L74 OD
Optik dilatometre, numunenin gölge profilini yüksek çözünürlüklü bir CCD kamerayla izleyerek boy ve hacim değişimini hesaplar; ölçüm temassız yapıldığı için yumuşak, ince ya da ölçüm sırasında eriyen numunelerde sonuç yalnız numunenin kendi davranışını yansıtır. Aynı malzemenin itme çubuklu ve optik dilatometrede belirgin farklı sonuçlar vermesi, sinterleme çalışmalarında yöntem seçiminin sonucu doğrudan etkilediğini gösterir. Yatay tasarımı sayesinde katı, sıvı ve katı–sıvı faz geçişleri özel bir adaptörle, sert folyolar ise ayrı bir numune tutucuyla ölçülür.
- Sekiz fırın konfigürasyonu −150 °C ile 2400 °C arasını kapsar
- Isıl genleşme ve CTE, lineer ve hacimsel genleşme, sinterleme kinetiği, sinterleme çarpılması ve birlikte sinterleme
- Cam viskozitesi, eriyik infiltrasyonu ve filtrasyonu, korozyon davranışı
- Gerçek zamanlı tek kare ya da video kaydı; opsiyonel DSC modülü
DIL L74 HM — Yüksek Sıcaklık Mikroskobu
Aynı L74 platformunun ikinci kurulumu numuneyi ölçmek yerine izler: gölge profili −100 °C ile 2000 °C arasında takip edilir, kül erimesinin dört karakteristik sıcaklığı — yumuşama, küre, yarım küre, akma — DIN 51730 ve ISO 540’a göre otomatik belirlenir. Kömür, biyokütle ve atık yakıtlarda cüruflaşma eğilimi kazan öncesinde değerlendirilir; seramik ve emayede yumuşama–erime davranışı doğrudan izlenir.
Isıtılan altlık üzerindeki damlanın kontur analiziyle yüksek sıcaklıkta temas açısı da aynı cihazdan 0…180° aralığında ±0,1° hassasiyetle elde edilir; lehimleme, cam–metal mühürleme ve kaplama çalışmalarında ıslatma davranışının sıcaklıkla nasıl değiştiğini bu ölçümden okuyabilirsiniz. Ayrıntılı teknik özellikler ve uygulama listesi DIL L74 HM Yüksek Sıcaklık Mikroskobu sayfasında yer alır.
DIL L76 Horizontal
Rutin CTE ve sinterleme ölçümü yapan üretim ve eğitim laboratuvarları için tasarlanmış yatay kurulum. RT–1600 °C aralığında, 0,05 nm ΔL çözünürlüğü ve ‰0,01 tekrarlanabilirlikle çalışır; sabit konfigürasyonu kurulumu ve günlük kullanımı basitleştirir.
DIL HP L70
Sinterleme ve faz dönüşümü davranışı basınca bağlı değiştiğinde — hidrojen depolama malzemeleri, yakıt hücresi bileşenleri, yüksek basınçlı katalizör altlıkları — ölçümün gerçek basınç koşulunda yapılması gerekir. HP L70 numuneyi 150 bar’a kadar basınç altında tutar; proses koşulu ölçüm hücresinde birebir kurulur. İki konfigürasyon sunulur: HP/1 daha yüksek basınç (150 bar / 1100 °C), HP/2 daha yüksek sıcaklık (100 bar / 1800 °C) tarafını kapsar.
STA/DIL L80
Eşzamanlı termal analiz ile dikey dilatometriyi tek cihazda birleştirir: kütle değişimi (TG), ısıl etkiler (DSC veya DTA) ve boyutsal değişim aynı numuneden, aynı sıcaklık geçmişinde, 2800 °C’ye kadar ölçülür. Sinterleme çalışmalarında büzülmenin hangi kütle kaybı ya da hangi faz dönüşümüyle eşleştiği tek deneyden okunur. Aynı sistem STA eşzamanlı termal analiz ailesinin de bir üyesidir.
DIL L78 RITA
İndüksiyon fırınıyla saniyede 4000 K’e varan ısıtma ve soğutma hızlarına ulaşan bu model, çelik ve alaşımların dönüşüm kinetiğini ölçer; TTT, CCT ve CHT diyagramlarını doğrudan deneyden üretebilirsiniz. Üç kurulum sunulur: yalnız su verme (Q), su verme ve basma deformasyonu (Q/D), su verme, basma ve çekme (Q/D/T). Deformasyonlu kurulumlar 22 kN’a kadar kuvvet uygular; sıcak şekillendirme simülasyonu bu kurulumlarla yapılır.
- Numuneye kaynatılmış üç adede kadar termokupl ile doğrudan sıcaklık ölçümü
- 1 kHz’e kadar veri örnekleme; sıcaklık, boy ve kuvvet eşzamanlı kaydedilir
- 5 nm boy değişimi çözünürlüğü (opsiyonel 1 nm), 24 bit veri çözünürlüğü
- Strok, kuvvet ve gerçek şekil değiştirme hızı kontrol modları
DIL L75 Nuclear
Dikey L75 platformunun mekanik ve elektronik bileşenleri birbirinden ayrılabildiği için ölçüm ünitesi glove-box içine, elektronik dışına konumlandırılır. Nükleer yakıt, bertaraf matrisi ve aktinit içeren malzemeler böylece kapalı hacimde ölçülür. Linseis’in nükleer hattının üçüncü ayağı olarak STA L81 Nuclear ve LFA L52 Nuclear ile aynı laboratuvar altyapısını paylaşır.
Uygulama Alanları
- Seramik ve refrakter: sinterleme büzülmesi, sinterleme başlangıç sıcaklığı ve hız kontrollü sinterleme ile proses optimizasyonu.
- Metal ve metalurji: TTT, CCT ve CHT diyagramları, ostenit dönüşümü, sıcak şekillendirme simülasyonu.
- Cam: yumuşama noktası, cam geçiş sıcaklığı, genleşme uyumu ve mühürleme camı seçimi.
- Kömür ve kül: sinterleme ve genleşme davranışı; karakteristik kül erime sıcaklıkları DIL L74 HM yüksek sıcaklık mikroskobuyla belirlenir.
- Yapı malzemeleri: çimento, beton ve tuğlada ısıl genleşme ve boyut kararlılığı.
- Elektronik ve yarı iletken: altlık–kaplama genleşme uyumu, düşük genleşmeli alaşım karakterizasyonu.
- Enerji: katı oksit yakıt hücresi bileşenleri ve hidrojen depolama malzemelerinde basınç altında genleşme.
- Nükleer: yakıt ve bertaraf matrislerinde glove-box içinde ısıl genleşme ölçümü.
Spesifikasyonlar
DIL L75 Horizontal · DIL L75 Vertical
| Horizontal | Vertical | |
|---|---|---|
| Sıcaklık aralığı | −180 … 2800 °C | −263 … 2800 °C |
| ΔL çözünürlüğü (LVDT) | 0,03 nm | 0,03 nm |
| Ölçüm aralığı (LVDT) | ±2500 µm | ±2500 µm |
| Temas kuvveti (LVDT) | 10 mN – 1 N | 10 mN – 1 N |
| ΔL çözünürlüğü (optik enkoder) | 0,1 nm | 0,1 nm |
| Ölçüm aralığı (optik enkoder) | ±25000 µm | ±25000 µm |
| Temas kuvveti (optik enkoder) | 10 mN – 5 N | 10 mN – 5 N |
| Otomatik numune boyu algılama | Var | Var |
| Kuvvet modülasyonu | Var | Var |
| Isıtma hızları | Çelik, bakır, erimiş silika, silisyum karbür fırın: 0,001 – 50 K/dak · grafit fırın: 0,001 – 100 K/dak | |
| Numune tutucu | Kullanıcı değiştirilebilir; SiO₂, Al₂O₃, grafit | |
| Sıcaklık doğruluk / hassasiyet / çözünürlük | 1 K / 0,1 K / 0,001 K | |
| Isıl kararlılık (izotermal) | ±0,02 K | |
| ΔL/L₀ tekrarlanabilirlik / doğruluk | ‰0,01 / ‰0,02 | |
| Kuvvet çözünürlüğü | 0,001 mN | |
| Atmosfer | İnert, oksitleyici, indirgeyici, vakum | |
DIL L75 Quattro
| Sıcaklık aralığı | −180 … 500/700/1000 °C · RT … 1000/1400/1600/1750/2000/2400/2800 °C |
| Isıtma / soğutma hızı | 0,01 – 50 K/dak (fırına bağlı) |
| Numune tutucu | Erimiş silika, Al₂O₃ (<1750 °C), grafit |
| Numune boyu / çapı | maks. 50 mm / maks. 7 mm |
| Ölçüm aralığı | 500 / 5000 µm |
| Çözünürlük | 0,125 nm |
| Atmosfer | İnert, oksitleyici, indirgeyici, vakum; statik / dinamik |
| Elektronik / arayüz | Entegre / USB |
| Eşzamanlı numune sayısı | 4 (bağımsız sensör) |
DIL L73 Laser
| Sıcaklık aralığı | −180 … 500 °C / −180 … 1000 °C / RT … 1000 °C |
| Çözünürlük | 0,3 nm * |
| Isıtma / soğutma hızı | 0,01 – 50 K/dak ** |
| Numune boyu | 50 mm'ye kadar |
| Numune çapı | 7 mm'ye kadar |
| Numune tutucu | Erimiş silika |
| Atmosfer | İnert, oksitleyici, indirgeyici, vakum |
| Arayüz | USB |
* Laboratuvar koşullarında test edilmiştir. ** Fırın tipine bağlıdır.
DIL L74 OD — Optik Dilatometre
| Sıcaklık aralığı | −150 … 2400 °C (fırın konfigürasyonuna göre) |
| Maks. fırın sıcaklığı | RT … 1600 / 1800 / 2000 °C |
| Numune üzerindeki sıcaklık | RT … 1550 / 1700 / 2000 °C |
| Isıtma hızı | 0,01 – 100 °C/dak (fırına bağlı) |
| Sıcaklık çözünürlüğü | 0,2 °C |
| Ölçüm çözünürlüğü | 1 µm'ye kadar |
| Numune boyutları (G×Y×D) | 24 × 22 × 40 mm |
| Vakum | 10⁻⁵ mbar'a kadar (pompa ve fırına bağlı) |
| Hidrojen atmosferi | Opsiyonel hidrojen güvenlik sistemi |
| Dedektör | Yüksek çözünürlüklü CCD kamera; tek kare veya video kaydı |
| Tayin modları | CTE, lineer ve hacimsel ısıl genleşme, hacim, sinterleme, simetri / asimetri, yükseklik ve genişlik oranı |
| Özel numune tutucular | Katı–sıvı adaptörü, sert folyo tutucusu |
| Opsiyon | DSC modülü |
Fırın konfigürasyonları
| L74-HS-500 | −100 … 500 °C |
| L74-HS-600LT | −150 … 600 °C |
| L74-HS-1000 | RT … 1000 °C |
| L74-HS-1600 | RT … 1600 °C |
| L74-HS-1700 | RT … 1700 °C |
| L74-V-2000 | RT … 2000 °C · vakum 10⁻² mbar |
| L74-V-2400 | RT … 2400 °C · vakum 10⁻² mbar |
| L74-H-150HP | RT … 150 °C · 60 bar'a kadar kontrollü basınç |
DIL L76 Horizontal
| Sıcaklık aralığı | RT … 1600 °C |
| ΔL çözünürlüğü | 0,05 nm |
| Ölçüm aralığı | ±2500 µm |
| Temas kuvveti | 50 mN – 1 N (manuel ayarlanır) |
| Sensör tipi | LVDT |
| Isıtma hızları | Çelik, bakır, erimiş silika, silisyum karbür fırın: 0,001 – 50 K/dak · grafit fırın: 0,001 – 100 K/dak |
| Numune tutucu | Kullanıcı değiştirilebilir; SiO₂, Al₂O₃, grafit |
| Sıcaklık doğruluk / hassasiyet / çözünürlük | 1 K / 0,1 K / 0,001 K |
| Isıl kararlılık (izotermal) | ±0,02 K |
| ΔL/L₀ tekrarlanabilirlik / doğruluk | ‰0,01 / ‰0,02 |
| Atmosfer | İnert, oksitleyici, indirgeyici |
DIL HP L70
| HP/1 | HP/2 | |
|---|---|---|
| Sıcaklık aralığı | RT … 1100 °C | RT … 1400 / 1800 °C |
| Maks. basınç | 150 bar | 100 bar |
| Vakum | 10⁻⁴ mbar | |
| Numune tutucu | Erimiş silika <1100 °C · Al₂O₃ <1750 °C | |
| Maks. numune boyu | 50 mm | |
| Numune çapı | 7 / 12 / 20 mm | |
| Ayarlanabilir numune basıncı | 1000 mN'a kadar | |
| Ölçüm aralığı | 500 / 5000 µm | |
| Çözünürlük | 0,125 nm | |
| Atmosfer | İnert, oksitleyici, indirgeyici, vakum | |
| Opsiyon | Basınç kontrollü gaz karıştırma sistemi (MFC) | |
STA/DIL L80
| Ölçüm yöntemleri | TG, DSC, DTA, TG-DSC, TG-DTA ve dilatometri |
| Sıcaklık aralığı | RT … 2800 °C |
| Isıtma / soğutma hızı | 0,001 – 100 K/dak (fırına bağlı) |
| DIL ölçüm aralığı | ±2500 µm (LVDT) veya ±25000 µm (optik enkoder) |
| DIL çözünürlüğü | 0,01 µm'ye kadar |
| Temas kuvveti | 10 mN – 5 N (sisteme bağlı) |
| Numune boyutu | Ø 20 mm'ye kadar · 50 mm boy |
| Gaz kontrolü | Manuel dozlama veya kütle akış kontrolörü (1, 3+ gaz) |
| Atmosfer | Vakum, inert, oksitleyici, indirgeyici, reaktif |
| Hız kontrollü sinterleme (RCS) | Dahil |
DIL L78 RITA
| L78 Q | L78 Q/D | L78 Q/D/T | |
|---|---|---|---|
| Fırın | İndüksiyon fırını | ||
| Sıcaklık aralığı | −150 … 1600 °C | −150 … 1600 °C (su verme) · numuneye bağlı 1750 °C | −150 … 1600 °C |
| Isıtma hızı | ≤ 4000 K/s * | ≤ 125 K/s | ≤ 125 K/s |
| Soğutma hızı | ≤ 4000 K/s * | ≤ 125 K/s | ≤ 125 K/s |
| Numune geometrisi (su verme) | Ø 3 mm · içi boş 3,5 mm DÇ / 3 mm İÇ · 10 mm | ||
| Numune geometrisi (basma) | — | Dolu, Ø 5 mm · 10 mm | Dolu, Ø 5 mm · 10 mm |
| Numune geometrisi (çekme) | — | — | Yuvarlak veya yassı sac |
| Boy değişimi ölçümü | ±1,2 mm | ±5 mm (basma) · ±1,2 mm (su verme) | ±5 mm (basma) · ±1,2 mm (su verme) |
| Boy ölçüm çözünürlüğü | 5 nm | 5 nm (ops. 1 nm) | 5 nm (ops. 1 nm) |
| Basma / çekme kuvveti | — | maks. 22 kN | maks. 22 kN |
| Strok hızı | — | 0,005 – 100 mm/s | 0,005 – 100 mm/s |
| Gerçek şekil değiştirme (basma) | — | −0,02 … −1,2 | −0,02 … −1,2 |
| Sıcaklık ölçümü | Numuneye kaynatılmış üç adede kadar termokupl | ||
| Veri örnekleme | 1 kHz'e kadar (sıcaklık, boy, kuvvet) | ||
| Veri çözünürlüğü | 24 bit | ||
| Mekanik kontrol modları | — | Strok, kuvvet, gerçek şekil değiştirme hızı | |
| Cihaz boyutları | 60 × 60 × 110 cm (aksesuarsız) | — | |
| Güç beslemesi | 16 A · 208–230 V | — | |
* Maksimum ısıtma/soğutma hızı, içi boş numune için geçerlidir.
DIL L75 Nuclear
| Sıcaklık aralığı | −263 … 2800 °C |
| Ölçüm aralığı (LVDT) | ±2500 µm · temas kuvveti 10 mN – 1 N |
| Ölçüm aralığı (optik enkoder) | ±25000 µm · ΔL çözünürlüğü 0,01 µm · temas kuvveti 10 mN – 5 N |
| Numune boyutu | Ø 20 mm'ye kadar · 50 mm boy · 20 mm genişlik |
| Eldiven kutusu kurulumu | Mekanik ve elektronik bileşenler ayrılabilir |
| Çoklu fırın konfigürasyonu | 3 fırına kadar · motorlu fırın hareketi opsiyonel |
| Gaz dozlama | Manuel veya kütle akış kontrolörü (1, 3+ gaz) |
| Dahil olan özellikler | Yumuşama noktası tayini, yoğunluk tayini, hız kontrollü sinterleme (RCS), temas kuvveti ayarı |
| Opsiyonlar | L-DTA (2000 °C'ye kadar), tekli / çiftli dilatometre |
| Vakum sızdırmaz tasarım | Var |
Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.
