İnce Film Oluşturma ve Karakterizasyon Sistemleri

QSense Core One, sensör yüzeyinde gerçek zamanlı olarak gerçekleşen adsorpsiyon, bağlanma, şişme ve bozunma süreçlerini kütle ve enerji yitimi (dissipation) üzerinden izleyen tek kanallı QCM-D sistemidir. 7 harmonikte ölçüm, 0,01 Hz frekans gürültüsü ve 0,5 ng/cm² tespit sınırı ile hem ince ve rijit filmleri hem de viskoelastik katmanları tam modelleme ile karakterize edebilirsiniz.

1999'dan bu yana 50'den fazla ülkede 1.300'ü aşkın kurulum ve 10.000'in üzerinde yayınla QCM-D teknolojisinin öncüsü olan QSense'in birikimine dayanan Core One, yeni nesil elektronik ve sinyal işleme ile önceki nesil QSense Explorer'a kıyasla 3 kattan fazla düşük gürültü ve yaklaşık %50 daha küçük bir gövde sunar; deneyin her adımını kendisi kurmak isteyen araştırmacıların modern beklentilerine karşılık verir.

MP-SPR Navi 200 OTSO, giriş seviye yarı-otomatik bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistem özellikle gaz ölçümleri, ince film karakterizasyonu ve öğretim amaçları için tercih edilir. Sistemin açık tasarımı, farklı aksesuarlarla kullanımına imkan tanır.

MP-SPR Navi 210A VASA, 6 numune kapasiteli oto-örnekleyiciye sahip bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistemin akış hücre hortumlarının geniş iç çapı ve 6 numuneli otomasyonu sayesinde özellikle malzeme karakterizasyonu ve nanopartikül araştırmaları için idealdir.

MP-SPR Navi 220A NAALI özellikle yaşam bilimleri uygulamaları için geliştirilmiş, well-plate otomasyonuna sahip bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistem PureKinetics ile bağlanma kinetiği analizlerini gerçekleştirmenin yanısıra yapısal değişiklikler ve katman özelliklerinin belirlenmesine imkan sunar.

MP-SPR Navi 400 KONTIO, giriş seviye yarı-otomatik ve modüler bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistem özellikle hücre yapışması ve hücreler arası etkileşimleri tanımlı fizyolojik koşullarda ölçmek için geliştirilmiştir. Sistem, hücre kültürü gibi karmaşık ve ham sıvı ortamlarında çalışmak için uygundur.

MP-SPR Navi 410A KAURIS, yaşam bilimleri çalışmaları için geliştirilmiş 7li oto-örnekleyiciye sahip bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Eş-zamanlı analizi sağlayan 4 akış kanalı ve oto-örnekleyici sistemi hem katman karakterizasyonu hem de afinite ve bağlanma kinetiği çalışmaları için güçlü bir araç haline getirmiştir.

MP-SPR Navi 420A ILVES, moleküler etkileşim çalışmalarında yüksek verim sağlamak üzere geliştirilmiş bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Eş-zamanlı analizi sağlayan ve çok düşük ölü hacime sahip 4 akış kanalı sistemin küçük molekül ve antikor etkileşim ölçümleri için tercih edilmesini sağlar.

QSense Omni, ince film yüzeylerinde kütle, kalınlık ve viskoelastik özelliklerin değişimini gerçek zamanlı izleyen, 1'den 4 kanala kadar yükseltilebilen otomatik QCM-D sistemidir. 0,0045 Hz frekans gürültüsü ve 0,24 ng/cm² tespit sınırı ile QSense ailesinin en hassas cihazıdır; doğrudan enjeksiyonlu akışkanları geleneksel hortumlu sistemlere kıyasla 5 kat hızlı sıvı değişimi sağlar.

1999'dan bu yana 50'den fazla ülkede 1.300'ü aşkın kurulum ve 10.000'in üzerinde yayınla QCM-D teknolojisinin öncüsü olan QSense'in birikimine dayanan Omni, 2023 reddot Endüstriyel Tasarım ödüllü tasarımı, akıllı otomasyonu ve sonradan kanal ekleyebilme esnekliğiyle; tekrarlanabilirlik ve verimlilik bekleyen araştırma ve ürün geliştirme laboratuvarlarının modern beklentilerine karşılık verir.

QSense Analyzer, dört ölçüm kanalını paralel çalıştıran modüler bir QCM-D sistemidir. İnce film yüzeylerinde kütle, kalınlık ve viskoelastik özelliklerin değişimini gerçek zamanlı izler; pH, konsantrasyon ya da alttaş gibi parametreleri aynı deney içinde yan yana karşılaştırmanızı sağlar.

Analyzer'ı QSense ailesi içinde ayıran özellik, çalışabildiği koşulların genişliğidir. Elektrokimya, optik erişim, nem kontrolü, vakum ve 150 °C'ye kadar yüksek sıcaklık modülleriyle aynı cihaz üzerinde birbirinden çok farklı ortamlarda ölçüm yapar; 7 harmonik ölçümü ve QSense Decay teknolojisiyle hem nitel hem nicel analiz için gereken veriyi üretir.

QSense Pro, ince film yüzeylerinde kütle, kalınlık ve viskoelastik özelliklerin değişimini 8 kanalda eş zamanlı ölçen, tam otomatik QCM-D sistemidir. Dört bağımsız şırınga pompası, otomatik numune hazırlığı ve entegre temizleme istasyonu sayesinde önceden programlanmış 8 ölçümü operatör müdahalesi olmadan tamamlar.

1999'dan bu yana 50'den fazla ülkede 1.300'ü aşkın kurulum ve 10.000'in üzerinde yayınla QCM-D teknolojisinin öncüsü olan QSense'in birikimine dayanan Pro, ölçüm kalitesinden ödün vermeden ölçek büyütmek isteyen laboratuvarların modern beklentilerine karşılık verir; sonuçları operatöre bağımlı olmaktan çıkarır.

KSV NIMA Langmuir & Langmuir Blodgett sistemleri kontrollü paketleme yoğunluğu ile ince film kaplamalar oluşturmak için yüksek hassasiyetli monotabaka oluşturma sistemleridir.

KSV NIMA ISR FLIP, hava-sıvı ve sıvı-sıvı arayüzlerinde viskoelastisitenin oldukça hassas ölçümlerini sağlayan arayüz kayma reometresidir.

MicroBAM, bir Langmuir teknesinde hava-su arayüzünde tek tabakaları görselleştirme imkanı sağlayan brewster açı mikroskobudur.

Bir malzemenin nasıl davranacağını çoğu zaman en üstteki birkaç nanometresi belirler: bir kaplamanın arayüzü, bir dopantın derinlik boyunca dağılımı ya da yüzeyde kalan bir kirlilik. İkincil iyon kütle spektrometrisinde (SIMS) numune yüzeyi vakumda birincil iyon demetiyle aşındırılır ve kopan ikincil iyonlar kütle spektrometresinde ayrılır. Yöntem, tek atom katmanından birkaç yüz nanometre derinliğe kadar bileşimi ppb düzeyinde verir. Vakumda kararlı kalan her malzemeye uygulanabilir: metaller, seramikler, polimerler ve yarı iletkenler.

Hiden Analytical SIMS sistemleri bu tekniği laboratuvarın kendi içinde kurulup işletilebilen bir ölçeğe taşır. Aile ortak bir yazılım ve iyon tabancası altyapısı üzerine kurulur. Dinamik ve statik SIMS ile SNMS'i tek odada toplayan SIMS Workstation, tek fazlı şebekeyle çalışan tekerlekli Compact SIMS ve gözetimsiz seri analiz yapan AutoSIMS bu ailenin üyeleridir. Ekibinizde SIMS deneyimi sınırlı olsa da analizleri kayıtlı şablonlardan başlatabilirsiniz; uzman kullanıcı ise tüm parametrelere erişmeye devam eder.

Linseis PLH L53, mikrometre kalınlığındaki ince film, folyo ve membranların ısıl iletkenliğini Periyodik Lazer Isıtma (PLH) yöntemiyle, numuneye hiç dokunmadan ölçer. 10 ile 500 µm arasındaki numunelerle oda sıcaklığından 300 °C'ye kadar çalışır ve 0,01 ile 2000 mm²/s arasındaki ısıl yayınımı kapsayabilirsiniz.

Linseis 1957'den bu yana termal analiz cihazı üretiyor. PLH L53'te ölçüm baştan sona optik olduğu için sensör yapıştırmaz, elektriksel kontak kurmaz ve numuneye mekanik yük bindirmezsiniz; serbest duran folyolar ve membranlar dahil kırılgan malzemeleri kendi ısıl özelliklerini bozmadan ölçebilirsiniz. Yazılıma girmeniz gereken tek parametre numune kalınlığıdır.

Linseis TF-LFA L54, 10 nm ile 20 µm arasındaki ince film ve çok katmanlı yapıların ısıl özelliklerini Frekans Bölgesi Termoreflektans (FDTR) yöntemiyle temassız belirler. Oda sıcaklığından 500 °C'ye kadar, kontrollü atmosferde ve 0,01 ile 2000 W/m·K arasındaki ısıl iletkenliklerde ölçüm alabilirsiniz.

Linseis 1957'den bu yana termal analiz cihazı üretiyor. TF-LFA L54 ile tek ölçümde ısıl iletkenlik, ısıl yayınım, efüzivite, hacimsel ısı kapasitesi ve termal sınır iletkenliğini birlikte elde edebilirsiniz; yoğunluk ya da ısı kapasitesi hakkında varsayım yapmanız gerekmez. Yarı iletken, kaplama, termoelektrik malzeme ve LED gibi ileri ince film teknolojilerinde birkaç nanometrelik katmanları bile karakterize edebilirsiniz.

Linseis TFA L59, nanometre ile mikrometre arasındaki ince filmlerin ısıl ve elektriksel özelliklerini tek ölçümde, aynı numune üzerinde ve aynı yönde belirler: ısıl iletkenlik, özgül ısı, elektriksel iletkenlik, Seebeck katsayısı, Hall sabiti, taşıyıcı mobilitesi ve yük taşıyıcı yoğunluğu.

Linseis 1957'den bu yana termal analiz cihazı üretiyor. İnce filmin fiziksel özellikleri yığın malzemeninkinden farklıdır; küçülen boyutlar ve yüksek en-boy oranı yüzey saçılmasını, sınır saçılmasını ve çok ince katmanlarda kuantum sınırlanmasını öne çıkarır. TFA L59 bunu ön yapılandırılmış ölçüm çipleri üzerinde çözer: numuneyi doğrudan çipe biriktirir, ölçümü −160 °C ile 280 °C arasında ultra yüksek vakumda alabilirsiniz.

İyon demeti aşındırmasında (IBE) çok katmanlı bir yapının hangi katmanda durdurulduğu, üretilen aygıtın performansını doğrudan belirler. Aşındırma sırasında yüzeyden kopan ikincil iyonlar, demetin o anda hangi katmana ulaştığını gösterir. IMP-EPD bu ikincil iyonları diferansiyel pompalı, sağlamlaştırılmış bir ikincil iyon kütle spektrometresiyle (SIMS) analiz eder. Bitiş noktasını sürece özgü algoritmalarla belirler.

Sistem manyetik ince filmler, yüksek sıcaklık süperiletkenleri ve III-V yarı iletkenler gibi yüksek spesifikasyonlu ince film aygıtlarının üretiminde kullanılmaktadır. Proses odasına flanşla bağlanır; veri sistemi aşındırma cihazıyla entegre çalışır.

Moleküler ışın epitaksisinde (MBE) filmin büyüme hızı ve bileşimi, kaynaklardan gelen moleküler ışınların akısına bağlıdır. Tekrarlanabilir bir büyütme için her kaynağın akısının proses sırasında, odanın içinden izlenmesi gerekir. XBS (cross beam source), birden çok ışın kaynağını aynı anda yerinde izleyen bir kuadrupol kütle spektrometresidir; biriktirmenin kontrolü için gerçek zamanlı sinyal verir.

XBS ışınları, kuadrupol eksenine dik bir eksen etrafında 70°'lik bir koniden kabul eder. Işın kabul açıklıkları proses odasındaki her kaynak konumuna göre ayrı ayrı yapılandırılır. Bu açıklıklar değiştirilebilir parçalar olarak üretildiği için, oda düzeni sonradan değişirse yeniden düzenlenebilir.