Mikroskopi, çıplak gözle görülemeyen maddeleri ya da yapıları görüntülemek üzere geliştirilmiş teknikler bütünüdür. Mikroskopinin iyi bilinen üç dalı vardır: optik, elektron ve taramalı prob mikroskobu.

Yeni

Nanosurf DriveAFM Yüksek Çözünürlüklü Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

DriveAFM, hava ve sıvı ortamda atomik basamak çözünürlüğünde görüntüleme ile kuvvet spektroskopisini tek platformda birleştiren, uç tarayıcı (tip-scanning) tasarımlı yüksek çözünürlüklü atomik kuvvet mikroskobudur. Fototermal uyarımlı CleanDrive teknolojisi, 28 bit CX kontrol ünitesi ve tam motorizasyonu ile DNA çift sarmalından yarı iletken yapılara kadar uzanan bir numune yelpazesinde kararlı ölçüm sağlar.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdıran İsviçreli Nanosurf'ün amiral gemisi araştırma sistemi olan DriveAFM, yaklaşık otuz yıllık taramalı prob mikroskopisi deneyimini otomasyon, tekrarlanabilirlik ve düşük gürültü tabanı gibi modern beklentilere karşılık verecek şekilde bir araya getirir.

Yeni

Nanosurf FlexAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

FlexAFM, uç tarayıcı tasarımı ve 24 bit C3000i kontrol ünitesiyle tek atomik katman çözünürlüğünden mikrometre ölçeğindeki topografyaya kadar çalışabilen, modüler yapılı orta sınıf araştırma atomik kuvvet mikroskobudur. Otuzun üzerinde ölçüm modu, ters mikroskop entegrasyonu ve eldivenli kutu uyumluluğu ile ihtiyaçlarınız değiştikçe genişleyecek şekilde tasarlanmıştır.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisinde kullanım kolaylığını tanımlayan İsviçreli Nanosurf'ün en yaygın kullanılan araştırma platformu olan FlexAFM, yaklaşık otuz yıllık üretici deneyimini modüler donanım, açık programlama arayüzü ve DriveAFM'e yükseltilebilir mimari gibi modern beklentilerle buluşturur.

Yeni

Nanosurf CoreAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

CoreAFM, tarayıcı, XYZ numune tablası, kamera, aktif titreşim masası ve 24 bit kontrol ünitesini tek bir gövdede birleştiren bütünleşik araştırma atomik kuvvet mikroskobudur. Üç kablo bağlantısıyla kurulur ve otuzun üzerinde opsiyonel ölçüm moduyla temel topografyadan elektriksel ve nanomekanik karakterizasyona kadar genişletilebilir.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdıran İsviçreli Nanosurf'ün araştırma sınıfındaki en kompakt sistemi olan CoreAFM, yaklaşık otuz yıllık üretici deneyimini sınırlı laboratuvar alanı, çok kullanıcılı ortamlar ve hızlı devreye alma gibi modern beklentilere karşılık verecek biçimde bir araya getirir.

Yeni

Nanosurf Alphacen 300 Drive Wafer Metrolojisi Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Alphacen 300 Drive, 300 mm ve 200 mm çaplı waferlarda Ångström seviyesinde yüzey pürüzlülüğü metrolojisi için tasarlanmış, uç tarayıcı mimarisine sahip endüstriyel atomik kuvvet mikroskobudur. WaveMode rezonans dışı görüntüleme ile havada çalışan klasik AFM'e göre 15 kata kadar yüksek satır hızına ulaşır ve 100 µm × 100 µm tarama alanında tekrarlanabilir ölçüm sağlar.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisi geliştiren İsviçreli Nanosurf'ün yirmi yılı aşkın endüstriyel tabla mühendisliği birikimi üzerine kurulan Alphacen 300 Drive, araştırma sınıfı çözünürlüğü yarı iletken üretiminin verim, otomasyon ve süreç entegrasyonu beklentileriyle buluşturur.

Yeni

Nanosurf Alphacen 300 Flex Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Alphacen 300 Flex, 300 mm × 300 mm boyutlara ve 45 kg ağırlığa kadar numuneleri taşıyabilen, uç tarayıcı mimarisine sahip endüstriyel atomik kuvvet mikroskobudur. Flex-Mount tarama kafası, 28 bit CX kontrol ünitesi ve akustik kabin ile 100 µm tarama alanında araştırma sınıfı çözünürlüğü büyük parçalara taşır.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisi geliştiren İsviçreli Nanosurf'ün endüstriyel tabla mühendisliği birikimi üzerine kurulan Alphacen 300 Flex, klasik AFM sistemlerinin numune boyutu ve ağırlık sınırlarını, üretim ve kalite kontrol laboratuvarlarının gerçek parça ölçüm ihtiyacına karşılık verecek şekilde kaldırır.

Yeni

Nanosurf Industrial Solutions Özel Tasarım Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Nanosurf Industrial Solutions, standart sistemlerin numune geometrisi, ağırlık, otomasyon ya da temiz oda gereksinimlerini karşılayamadığı durumlar için özel tasarlanan atomik kuvvet mikroskobu çözümleridir. FlexAFM ve DriveAFM tarama kafalarının monte edilebilir sürümleri; beş eksene kadar numune tablaları, hava yastıklı öteleme sistemleri ve MES entegrasyonu ile birleştirilerek uygulamaya özel sistemler oluşturulur.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisi geliştiren İsviçreli Nanosurf'ün mühendislik birikimi, bu kapsamda 500 kg'a kadar numune taşıyan tablalardan ISO 6 temiz oda montajına uzanan bir yelpazede üretim ölçeğindeki kalite kontrol ve Ar-Ge beklentilerine karşılık verecek şekilde uygulanır.

Yeni

Nanosurf Flex-Mount Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Flex-Mount, özel tablalara veya mevcut düzeneklere entegre edilmek üzere tasarlanmış, araştırma sınıfı bir uç tarayıcı AFM tarama kafasıdır. FlexAFM'in çözünürlüğünü Nanite'ın entegre edilebilirliğiyle birleştirir; 100 µm tarama alanı ve 10 µm Z aralığıyla numune boyutu ya da ağırlığı sınırı olmadan büyük ve düzlemsel olmayan parçaların karakterizasyonunu sağlar.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisi geliştiren İsviçreli Nanosurf'ün entegrasyon odaklı ürün ailesinin merkezinde yer alan Flex-Mount, araştırma laboratuvarı çözünürlüğünü özel ölçüm düzenekleri ve üretim ortamları gibi modern entegrasyon ihtiyaçlarına taşır.

Yeni

Nanosurf Nanite Entegre Edilebilir Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Nanite, 86 × 45 × 61 mm'lik çıkarılabilir tarama kafasıyla üretilmiş en küçük atomik kuvvet mikroskoplarından biridir ve özel tablalara ya da mevcut düzeneklere entegre edilmek üzere tasarlanmıştır. Küçük hacmine rağmen nanometre altı yüzey pürüzlülüğü ölçümü yapar ve numune boyutunda doğal bir sınır getirmez.

1997'de taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdırarak yola çıkan İsviçreli Nanosurf'ün minyatürleştirme yaklaşımını en uca taşıyan Nanite, üretim hattı entegrasyonu ve özel ölçüm düzenekleri gibi modern beklentilere yanıt verir.

Yeni

Nanosurf LensAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

LensAFM, optik mikroskop ve 3B optik profilometrelerin objektif taretine normal bir objektif gibi takılan atomik kuvvet mikroskobudur. Optik incelemeyle yakaladığınız bölgeyi taret çevirerek nanometre çözünürlüğünde topografya ve malzeme özelliği ölçümüne taşır; numuneyi ayrı bir cihaza aktarmanız gerekmez.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskobunu erişilebilir kılan İsviçreli Nanosurf'ün en özgün entegrasyon çözümü olan LensAFM, mevcut mikroskop altyapısının ömrünü uzatma ve iş akışını bölmeme gibi modern laboratuvar beklentilerine karşılık verir.

Yeni

Nanosurf NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

NaioAFM, tarayıcı, kontrol ünitesi, XY tablası, hava akımı koruması ve titreşim izolasyon ayaklarını tek gövdede birleştiren, giriş seviyesi bütünleşik atomik kuvvet mikroskobudur. Kurulumu dakikalar sürer, kantilever değişimi lazer veya dedektör hizalaması gerektirmez; temel araştırma ve nano-eğitim uygulamalarında öğrencilerin ilk AFM deneyimi için tasarlanmıştır.

1997'de taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdırarak yola çıkan İsviçreli Nanosurf'ün bu yaklaşımını en saf hâliyle sürdüren NaioAFM, sınırlı laboratuvar alanı, deneyimsiz kullanıcılar ve ders saatine sığması gereken deneyler gibi modern eğitim beklentilerine karşılık verir.

Yeni

Nanosurf NaioSTM Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM)

NaioSTM, tarama kafası, kontrol ünitesi, hava akımı koruması ve titreşim izolasyonunu tek gövdede birleştiren masaüstü taramalı tünelleme mikroskobudur. 10 mm'nin altındaki çok kısa mekanik döngüsü sayesinde sıradan bir laboratuvar ortamında, iki kablo bağlantısıyla ve dakikalar içinde atomik çözünürlüğe ulaşır.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskobunu erişilebilir kılan İsviçreli Nanosurf'ün eğitim alanındaki en yaygın sistemi olan NaioSTM, atomik ölçekli görüntülemenin özel bir titreşim altyapısı ve uzman operatör gerektirmeden yapılabilmesi beklentisine karşılık verir.

Yeni

Nanosurf FluidFM Tek Hücre Biyolojisi ve Nanomanipülasyon Sistemi

FluidFM, ucunda açıklık bulunan içi boş kantileverler aracılığıyla atomik kuvvet mikroskobunun kuvvet duyarlılığını mikroakışkan kontrolüyle birleştiren bir sistemdir. −800 ile 1000 mbar arasında hassas basınç kontrolüyle tek bir hücreye pikolitre altı hacimde madde enjekte edebilir, hücreyi öldürmeden sitoplazma örneği alabilir ve tek hücre yapışma kuvvetlerini ölçebilirsiniz.

İsviçreli Nanosurf'ün 2011'den bu yana Cytosurge ile birlikte geliştirdiği FluidFM teknolojisi, tek hücre biyolojisinin popülasyon ortalaması yerine hücreden hücreye farklılığı görme beklentisine, kuvvet ve akışkan kontrolünü aynı probta buluşturarak karşılık verir.

Yeni

Nanosurf PicoBalance Tekil Hücre Kütle Monitörü

PicoBalance, tek bir canlı hücrenin ya da mikroskobik bir parçacığın kütlesini 5 pikogram çözünürlükte, sıvı ortamda ve numuneye zarar vermeden ölçen kantilever tabanlı bir kütle monitörüdür. 100 ms zaman çözünürlüğüyle saniyelerden günlere uzanan süreçleri izler; onlarca pikogramdan onlarca nanograma kadar uzanan bir kütle aralığında çalışır.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisi geliştiren İsviçreli Nanosurf, hassas terazilerin ulaşamadığı mikroskobik ölçekteki kütle ölçümü boşluğunu, canlı hücre çalışmalarının zaman çözünürlüğü ve uzun süreli kararlılık beklentilerine karşılık verecek şekilde kapatır.

Yeni

Andor BC43 Masaüstü Konfokal Mikroskop

BC43, geniş alan ve geçirimli ışık mikroskobunu bir arada sunan bir masaüstü konfokal mikroskobudur. Bu kompakt tasarım yeni araştırmacılar için kolay kullanım anlamına gelirken deneyimli araştırmacılar için hızlı ve pratik bir çözüm olmaktadır. Sistemin bir karanlık odaya ihtiyaç duymadan çalışabilmesi sayesinde araştırmacılar rutin çalışmalarını gerçekleştirdiği laboratuvar tezgahı üzerinde konfokal teknolojisine erişebilirler.

Yeni

Andor Imaris Görüntü Analiz Yazılımı

Imaris, bir mikroskop görüntüsü analiz yazılımıdır. Yazılım araştırmacılara, farklı sürücülerdeki verileri bir araya getirerek mikroskopi görüntülerini yönetmeleri ve analiz etmeleri için eksiksiz bir iş akışı sağlar.

Optik mikroskopi ve elektron mikroskobu, numune ile etkileşime giren elektromanyetik radyasyonun/elektron ışınlarının kırınımını, yansımasını veya kırılmasını, bir görüntü oluşturmak için saçılan radyasyonun veya başka bir sinyalin toplanmasını içerir. Bu işlem, numunenin geniş alan ışınlaması ile (örneğin standart ışık mikroskobu ve transmisyon elektron mikroskobu) veya numune üzerinde ince bir ışın taranarak (örneğin konfokal lazer tarama mikroskobu ve taramalı elektron mikroskobu) gerçekleştirilebilir.

Taramalı prob mikroskopisi, bir probun ilgilenilen malzemenin yüzeyi ile etkileşimini kullanarak yüzeyin taranması işlemidir. Taramalı prob mikroskobu (SPM) alanı, 1980'lerin başında taramalı tünelleme mikroskobunun (STM) icadıyla başladı. Devamında atomik kuvvet mikroskobunun (AFM) icadıyla büyük bir atılım yaşandı ve o zamandan beri nano ölçekli karakterizasyon ve ölçümlerde devrim yaratmaya devam ediyor. Bugün AFM, en popüler SPM türüdür ve AFM ve SPM terminolojisinin sıklıkla eşanlamlı olarak kullanılmasına neden olur.

AFM, çok çeşitli mekanik özellikleri (ör. yapışma, sertlik, sürtünme, dağılma), elektriksel özellikleri (ör. kapasitans, elektrostatik kuvvetler, iş fonksiyonu, elektrik akımı), manyetik özellikleri ve optik spektroskopik özellikleri karakterize edebilir. Görüntülemeye ek olarak AFM probu, litografi ve moleküler çekme deneylerinde alt tabakaları manipüle etmek, yazmak ve hatta çekmek için kullanılabilir.

Esnekliği nedeniyle atomik kuvvet mikroskobu, optik ve elektron mikroskobunun yanı sıra malzeme karakterizasyonu için yaygın bir araçtır ve nanometre ölçeği ve ötesine kadar çözünürlükler elde edebilir. AFM, ultra yüksek vakumdan sıvılara kadar farklı ortamlarda çalışabilir ve bu nedenle fizik ve kimyadan biyoloji ve malzeme bilimine kadar tüm disiplinleri kapsar.

Aklınızda soru işareti kalmasın.

İletişim bilgilerinizi bırakın, size ulaşalım.