Linseis Termoelektrik Karakterizasyon Sistemleri

‍

Aşağıdaki bölümler hangi cihazın hangi soruya cevap verdiğini gösterir; sayısal karşılaştırmayı Spesifikasyonlar bölümündeki açılır tablolardan yapabilirsiniz.

LSR L31 — Seebeck ve Özdirence Giriş Seviyesi

Seebeck katsayısını ve elektriksel özdirenci aynı ölçümde, aynı numuneden alabilirsiniz. Temel ünite oda sıcaklığından 200 °C'ye çalışır; kriyojenik opsiyonla aralık −160 °C'ye taşınır. Numune taşıyıcı birincil ve ikincil ısıtıcıyı içeren bir PCB kart üzerindedir — numune hazırlığı basitleşir, tekrarlanabilirlik artar.

• Seebeck ölçüm aralığı 0 – 2,5 mV/K, sıcaklık gradyanı 10 K'e kadar
• Seebeck gerilimi ölçüm aralığı ±8 mV
• Numune: 8–25 mm boy, 2–25 mm genişlik, ince filmden 2 mm kalınlığa kadar
• 0,01 – 100 K/dak ısıtma hızı
• V-I karakteristiği ölçümüyle sensör–numune teması ölçümden önce doğrulanır
• Modüler tasarım: gaz temizleme, aydınlatma ve kriyojenik opsiyonu sonradan eklenir

LSR L33 — Araştırma Düzeyinde Termoelektrik Karakterizasyon

Üç fırın seçeneğiyle −100 °C'den 1500 °C'ye kadar tek platformda çalışabilirsiniz: kızılötesi fırın RT…800/1100 °C, dirençli fırın RT…1500 °C, düşük sıcaklık fırını −100…500 °C. Numune iki elektrot arasında dikey olarak kenetlenir; folyo ve ince katmanlar için ayrı adaptör vardır.

• Seebeck katsayısı 1 µV/K – 5000 µV/K · doğruluk ±%7, tekrarlanabilirlik ±%3,5
• Elektriksel iletkenlik 0,01 – 2×10⁵ S/cm · doğruluk ±%10, tekrarlanabilirlik ±%5
• Statik DC / eğim yöntemi (Seebeck), dört nokta ölçüm (direnç)
• Düşük sürüklenmeli akım kaynağı 0–160 mA (opsiyonel 220 mA)
• Elektrot: nikel (−100…500 °C) veya platin (−100…+1500 °C); termokupl K/S/C

LSR-4 yükseltmesi. LSR L33'e sonradan eklenen DC Harman modülü, termoelektrik bacaklarda ZT'yi doğrudan ölçer (−100…+400 °C, iğne kontaklarla adyabatik koşullar, 50 × 50 mm'ye kadar modül). Yani mevcut cihazınız ZT ölçümüne açılır.

LZT L32 — ZT'yi Tek Cihazda Tamamlayın

LSR platformunu bir flaş analizörüyle birleştirir: Seebeck katsayısını, elektriksel direnci ve ısıl yayınımı aynı cihazda, aynı numuneden ölçebilirsiniz. Üç büyüklük üç ayrı cihazda ölçüldüğünde numune farkı, temas farkı ve sıcaklık geçmişi farkı ZT'ye hata olarak girer; burada üçü de aynı numuneden ve aynı sıcaklık geçmişiyle gelir.

• LSR tarafı: Seebeck 1 µV/K – 250 mV/K, iletkenlik 0,01 – 2×10⁵ S/cm
• LFA tarafı: Nd:YAG lazer 25 J, darbe 0,01 – 5 ms, InSb / MCT dedektör
• Isıl yayınım ölçüm aralığı 0,01 – 1000 mm²/s
• Fırınlar: kızılötesi RT…800/1100 °C · düşük sıcaklık −100…500 °C
• LSR-4 yükseltmesiyle DC Harman ve AC empedans spektroskopisi eklenir

Aynı flaş yöntemini bulk malzemede tek başına kullanmak isterseniz LFA L51 ve L52 modellerine bakabilirsiniz.

TEG L34 — Modülün Gerçek Verimini Ölçün

Malzeme düzeyinde iyi görünen bir termoelektriğin modül düzeyindeki gücünü temas dirençleri, bacak geometrisi ve montaj sıkılığı belirler. TEG L34 bitmiş modülü gerçek kenetleme kuvveti ve sıcaklık farkı altında ölçer, güç çıkışını ve dönüşüm verimini doğrudan verir.

• Modül boyutu Ø 20 / 25 / 40 / 60 mm, köşeli 20 × 20, 25 × 25, 40 × 40 mm; 25 mm kalınlığa kadar
• Sıcak taraf RT…300 °C, soğuk taraf −20…300 °C; sıcaklık doğruluğu 0,1 °C
• Gerilim 0 – 12 V DC (±%0,3, 1,6 µV çözünürlük), akım 0 – 3 A DC (±%0,3, 1 µA)
• 36 W'a kadar ısı atımı; kenetleme kuvveti 2 – 5 kN, elektrikli tahrik
• Çıktılar: ısı akısı, ortalama Seebeck katsayısı, ortalama ısıl iletkenlik, modül direnci, güç çıkışı, dönüşüm verimi
• Referans blok alüminyum, pirinç veya bakır; termokupl tip E

HCS L36 — Taşıyıcıyı Sayın, Mobiliteyi Görün

Özdirenç malzemenin ne kadar ilettiğini söyler. Hall etkisi ölçümü neden ilettiğini gösterir: taşıyıcı tipini, yoğunluğunu ve mobilitesini ayırır — yarı iletken geliştirmede aranan bilgi budur. HCS L36 dört parametreyi (Hall katsayısı, taşıyıcı yoğunluğu, Hall mobilitesi, özdirenç) tek ölçümde verir.

• Sıcaklık aralığı −196 °C … +600 °C, gaz sızdırmaz hazne
• Halbach mıknatıs, 0,5 T'ya kadar homojen alan
• Ölçüm yöntemleri: DC Hall, AC Hall (opsiyonel), Van der Pauw, Hall bar
• Numune boyutu 12,5 × 12,5 mm²'ye kadar, tak-çalıştır numune tutucularla
• Numune tutucular: standart, Hall bar, Seebeck, aydınlatmalı ve özel
• Atmosfer: vakum, inert, oksitleyici, indirgeyici
• EPROM'lu akıllı numune tutucu tanıma — ölçüm parametreleri yazılıma kendiliğinden yüklenir

Üç konfigürasyon, tek platform. Basic ile rutin karakterizasyona başlar, Advanced ve Ultimate'e sonradan yükseltebilirsiniz; AC Hall, lock-in yükselteci, Seebeck ve aydınlatma modülleri modüler olarak eklenir.

TFA L59 — İnce Filmde Elektriksel Taşınım

Numuneniz Linseis çipi üzerine biriktirilmiş bir ince filmse, bulk cihazların kenetleme ve temas düzeninden farklı bir çözüme ihtiyacınız vardır. TFA L59 ince filmde Seebeck katsayısını, elektriksel iletkenliği ve Hall etkisini −170 °C ile 300 °C arasında ölçer. Ayrıntılı teknik özellikler için TFA L59 sayfasına bakabilirsiniz.

Uygulama Alanları

• Termoelektrik malzeme geliştirme: yeni bileşimlerde ZT taraması, katkı optimizasyonu, sıcaklığa bağlı güç faktörü.
• Atık ısı geri kazanımı: baca, egzoz ve proses hattı için jeneratör modülü seçimi ve verim doğrulaması.
• Peltier ve soğutma modülleri: modül direnci, güç çıkışı ve dönüşüm veriminin üretim kontrolünde doğrulanması.
• Yarı iletken ve elektronik: katkı seviyesi, taşıyıcı yoğunluğu ve mobilitenin sıcaklığa bağlı karakterizasyonu.
• İnce film ve kaplama: çip üzerine biriktirilmiş filmlerde elektriksel taşınım özellikleri.
• Enerji hasadı ve sensör: düşük güçlü sensör beslemesi için modül ve malzeme eşleştirmesi.

‍