Linseis Termoelektrik Karakterizasyon Sistemleri

‍

Beş ölçüm platformu, tek zincir. Aşağıdaki bölümler hangi cihazın hangi soruya cevap verdiğini gösterir; sayısal karşılaştırmayı Spesifikasyonlar bölümündeki açılır tablolardan yapabilirsiniz.

LSR L31 — Seebeck ve Özdirence Giriş Seviyesi

Seebeck katsayısını ve elektriksel özdirenci aynı ölçümde, aynı numuneden alırsınız. Temel ünite oda sıcaklığından 200 °C'ye çalışır; kriyojenik opsiyonla −160 °C'ye inersiniz. Numune taşıyıcı birincil ve ikincil ısıtıcıyı içeren bir PCB kart üzerindedir — numune hazırlığı basitleşir, tekrarlanabilirlik artar.

• Seebeck ölçüm aralığı 0 – 2,5 mV/K, sıcaklık gradyanı 10 K'e kadar
• Seebeck gerilimi ölçüm aralığı ±8 mV
• Numune: 8–25 mm boy, 2–25 mm genişlik, ince filmden 2 mm kalınlığa kadar
• 0,01 – 100 K/dak ısıtma hızı
• V-I karakteristiği ölçümüyle sensör–numune temasını ölçümden önce doğrularsınız
• Modüler tasarım: gaz temizleme, aydınlatma ve kriyojenik opsiyonu sonradan eklenir

LSR L33 — Araştırma Düzeyinde Termoelektrik Karakterizasyon

Üç fırın seçeneğiyle −100 °C'den 1500 °C'ye kadar tek platformda çalışırsınız: kızılötesi fırın RT…800/1100 °C, dirençli fırın RT…1500 °C, düşük sıcaklık fırını −100…500 °C. Numune iki elektrot arasında dikey olarak kenetlenir; folyo ve ince katmanlar için ayrı adaptör vardır.

• Seebeck katsayısı 1 µV/K – 5000 µV/K · doğruluk ±%7, tekrarlanabilirlik ±%3,5
• Elektriksel iletkenlik 0,01 – 2×10⁵ S/cm · doğruluk ±%10, tekrarlanabilirlik ±%5
• Statik DC / eğim yöntemi (Seebeck), dört nokta ölçüm (direnç)
• Düşük sürüklenmeli akım kaynağı 0–160 mA (opsiyonel 220 mA)
• Elektrot: nikel (−100…500 °C) veya platin (−100…+1500 °C); termokupl K/S/C

LSR-4 yükseltmesi. LSR L33'e sonradan eklenen DC Harman modülü, termoelektrik bacaklarda ZT'yi doğrudan ölçer (−100…+400 °C, iğne kontaklarla adyabatik koşullar, 50 × 50 mm'ye kadar modül). Yani mevcut cihazınızı ayrı bir yatırım yapmadan ZT ölçümüne açabilirsiniz.

LZT L32 — ZT'yi Tek Cihazda Tamamlayın

LSR platformunu bir flaş analizörüyle birleştirir: Seebeck katsayısı, elektriksel direnç ve ısıl yayınım aynı cihazda, aynı numuneden ölçülür. Üç büyüklüğü üç ayrı cihazda ölçtüğünüzde numune farkı, temas farkı ve sıcaklık geçmişi farkı ZT'ye hata olarak girer; burada girmez.

• LSR tarafı: Seebeck 1 µV/K – 250 mV/K, iletkenlik 0,01 – 2×10⁵ S/cm
• LFA tarafı: Nd:YAG lazer 25 J, darbe 0,01 – 5 ms, InSb / MCT dedektör
• Isıl yayınım ölçüm aralığı 0,01 – 1000 mm²/s
• Fırınlar: kızılötesi RT…800/1100 °C · düşük sıcaklık −100…500 °C
• LSR-4 yükseltmesiyle DC Harman ve AC empedans spektroskopisi eklenir

Aynı flaş yöntemini bulk malzemede tek başına kullanmak isterseniz LFA L51 ve L52 modellerine bakabilirsiniz.

TEG L34 — Modülün Gerçek Verimini Ölçün

Malzeme düzeyinde iyi görünen bir termoelektrik, modüle dönüştüğünde beklediğiniz gücü vermeyebilir: temas dirençleri, bacak geometrisi ve montaj sıkılığı devreye girer. TEG L34 bitmiş modülü gerçek kenetleme kuvveti ve sıcaklık farkı altında ölçer, güç çıkışını ve dönüşüm verimini doğrudan verir.

• Modül boyutu Ø 20 / 25 / 40 / 60 mm, köşeli 20 × 20, 25 × 25, 40 × 40 mm; 25 mm kalınlığa kadar
• Sıcak taraf RT…300 °C, soğuk taraf −20…300 °C; sıcaklık doğruluğu 0,1 °C
• Gerilim 0 – 12 V DC (±%0,3, 1,6 µV çözünürlük), akım 0 – 3 A DC (±%0,3, 1 µA)
• 36 W'a kadar ısı atımı; kenetleme kuvveti 2 – 5 kN, elektrikli tahrik
• Çıktılar: ısı akısı, ortalama Seebeck katsayısı, ortalama ısıl iletkenlik, modül direnci, güç çıkışı, dönüşüm verimi
• Referans blok alüminyum, pirinç veya bakır; termokupl tip E

HCS L36 — Taşıyıcıyı Sayın, Mobiliteyi Görün

Özdirenç size malzemenin ne kadar ilettiğini söyler, neden ilettiğini söylemez. Hall etkisi ölçümü taşıyıcı tipini, yoğunluğunu ve mobilitesini ayırır — yarı iletken geliştirmede aradığınız bilgi budur. HCS L36 dört parametreyi (Hall katsayısı, taşıyıcı yoğunluğu, Hall mobilitesi, özdirenç) tek ölçümde verir.

• Sıcaklık aralığı −196 °C … +600 °C, gaz sızdırmaz hazne
• Halbach mıknatıs, 0,5 T'ya kadar homojen alan
• Ölçüm yöntemleri: DC Hall, AC Hall (opsiyonel), Van der Pauw, Hall bar
• Numune boyutu 12,5 × 12,5 mm²'ye kadar, tak-çalıştır numune tutucularla
• Numune tutucular: standart, Hall bar, Seebeck, aydınlatmalı ve özel
• Atmosfer: vakum, inert, oksitleyici, indirgeyici
• EPROM'lu akıllı numune tutucu tanıma — ölçüm parametreleri yazılıma kendiliğinden yüklenir

Üç konfigürasyon, tek platform. Basic ile rutin karakterizasyona başlar, Advanced ve Ultimate'e sonradan yükseltirsiniz; AC Hall, lock-in yükselteci, Seebeck ve aydınlatma modülleri modüler olarak eklenir.

DEA — Dielektrik Analiz

Dielektrik analiz, kürlenme sırasında malzemenin iyonik viskozitesini izleyerek termoset reçine, yapıştırıcı ve kompozitlerde kürlenme derecesini ve jelleşme noktasını gerçek zamanlı takip etmenizi sağlar; kalıp içinde ya da laboratuvar ölçeğinde uygulanır. Uygulamanıza uygun sensör ve konfigürasyon için bizimle iletişime geçin.

TFA L59 — İnce Filmde Elektriksel Taşınım

Numuneniz Linseis çipi üzerine biriktirilmiş bir ince filmse, bulk cihazların kenetleme ve temas düzeni işe yaramaz. TFA L59 ince filmde Seebeck katsayısını, elektriksel iletkenliği ve Hall etkisini −170 °C ile 300 °C arasında ölçer. Ayrıntılı teknik özellikler için TFA L59 sayfasına bakabilirsiniz.

Uygulama Alanları

• Termoelektrik malzeme geliştirme: yeni bileşimlerde ZT taraması, katkı optimizasyonu, sıcaklığa bağlı güç faktörü.
• Atık ısı geri kazanımı: baca, egzoz ve proses hattı için jeneratör modülü seçimi ve verim doğrulaması.
• Peltier ve soğutma modülleri: modül direnci, güç çıkışı ve dönüşüm veriminin üretim kontrolünde doğrulanması.
• Yarı iletken ve elektronik: katkı seviyesi, taşıyıcı yoğunluğu ve mobilitenin sıcaklığa bağlı karakterizasyonu.
• İnce film ve kaplama: çip üzerine biriktirilmiş filmlerde elektriksel taşınım özellikleri.
• Enerji hasadı ve sensör: düşük güçlü sensör beslemesi için modül ve malzeme eşleştirmesi.
• Polimer ve kompozit: kürlenme derecesinin ve jelleşme noktasının dielektrik analizle izlenmesi.

‍