Nanosurf CoreAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

CoreAFM, tarayıcı, XYZ numune tablası, kamera, aktif titreşim masası ve 24 bit kontrol ünitesini tek bir gövdede birleştiren bütünleşik araştırma atomik kuvvet mikroskobudur. Üç kablo bağlantısıyla kurulur ve otuzun üzerinde opsiyonel ölçüm moduyla temel topografyadan elektriksel ve nanomekanik karakterizasyona kadar genişletilebilir.

1997'den bu yana taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdıran İsviçreli Nanosurf'ün araştırma sınıfındaki en kompakt sistemi olan CoreAFM, yaklaşık otuz yıllık üretici deneyimini sınırlı laboratuvar alanı, çok kullanıcılı ortamlar ve hızlı devreye alma gibi modern beklentilere karşılık verecek biçimde bir araya getirir.

Detaylı Bilgi Al

Titreşim Masası Dahil, Kurulum Üç Kabloda Biter

Aktif titreşim izolasyon masası, hava akımı koruması ve kontrol ünitesi sistemin içindedir. Ayrı bir titreşim masası, ayrı bir kontrol kabini ve bunlar arasındaki kablolamayla uğraşmadan, cihazı tezgâha koyup üç kabloyu bağlayarak ölçüme başlayabilirsiniz.

  • Dahili aktif titreşim izolasyon masası
  • Bütünleşik XYZ numune tablası ve üst/yan görüş kamerası
  • Hava akımı koruması
  • 24 bit kontrol ünitesi gövdeye entegre

Flexure Kılavuzlu Tarayıcıyla Düzlemsel ve Doğrusal Tarama

Flexure kılavuzlu tarayıcı, tarama alanı boyunca düzlemselliği koruyarak eğrilik düzeltmesine olan ihtiyacı azaltır. Bu, özellikle geniş alanlı taramalarda ve pürüzlülük ölçümlerinde ham verinin doğrudan değerlendirilebilmesini sağlar.

Çok Kullanıcılı Laboratuvarlarda Kullanım Kolaylığı

Kantilever değişimi lazer veya dedektör hizalaması gerektirmez; yazılım seçilen kantileverin özelliklerine göre frekans taramasını otomatik yapar. Ortak kullanılan laboratuvarlarda her yeni kullanıcı için yeniden eğitim ve kalibrasyon yükü belirgin biçimde azalır.

  • Kendiliğinden hizalanan kantileverler
  • Parametre girmeden otomatik frekans ayarı
  • Python ile programlanabilir cihaz kontrolü

Otuzun Üzerinde Modla Genişleyen Kapsam

Temel statik ve dinamik kuvvet modlarının yanında C-AFM, SSRM, PFM, EFM, KPFM, MFM ve SMM ile elektriksel karakterizasyon; kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu ve kuvvet haritalaması ile nanomekanik analiz yapabilirsiniz. Değişken manyetik alan üreteci ile düzlem içi manyetik alan altında ölçüm alabilirsiniz.

CoreAFM ile grafen üzerinde KPFM ve topografya
Grafen numunesinde topografya ve KPFM yüzey potansiyeli verisinin birlikte sunumu. Görüntü genişliği 8 µm, potansiyel farkı 144 mV.

Nanomekanik Özellikleri Haritalayın

Kuvvet haritalaması modunda numune yüzeyinin her noktasında kuvvet-mesafe eğrisi toplanarak elastik modül, yapışma kuvveti ve enerji yitimi dağılımları çıkarılır. Polimer karışımlarında faz ayrımını, kompozitlerde ara yüzey özelliklerini ve biyolojik numunelerde doku sertliği farklarını bu şekilde görünür kılabilirsiniz.

CoreAFM ile SBS-PS polimer karışımında yükseklik ve faz görüntüsü
SBS-PS polimer karışımında yükseklik ve faz verisinin üst üste bindirilmesi; faz kontrastı iki bileşeni ayırıyor. Görüntü genişliği 2 µm.

Biyolojik Numuneler için Alttan Optik Erişim

Dijital Ters Mikroskop Seçeneği (DIMO) ile numuneyi geçirgen ışık veya floresan kontrastıyla alttan görüntüleyebilirsiniz. Motorize Z tablası 5 mm hareket sunar; hücre kültürü kaplarında ince konumlandırma gerektiğinde 150 µm'lik Z aktüatörü aksesuarı eklenebilir. FluidFM eklentisiyle tek hücre manipülasyonu ve mikroakışkan uygulamalara genişletebilirsiniz.

Uygulama Alanları

  • Malzeme bilimi: Polimer, seramik, metal ve 2B malzemelerde yüzey topografyası, pürüzlülük ve faz analizi
  • Yaşam bilimleri ve biyoteknoloji: Hücre morfolojisi, biyomolekül görüntüleme ve doku mekaniği
  • Nano-elektriksel karakterizasyon: Yarı iletken ve 2B malzemelerde iletkenlik ve yüzey potansiyeli haritalama
  • Kaplama ve ince film: Tabaka kalınlığı, yüzey pürüzlülüğü ve kusur analizi
  • Üniversite araştırma laboratuvarları: Çok kullanıcılı ortamlarda geniş mod yelpazesiyle ortak kullanım

Genel tasarımUç tarayıcı, numune tablası ve tarama koruması tek gövdede
Tarayıcı100 µm × 100 µm × 12 µm
Maksimum tarama alanı100 µm — düzlemsellik <5 nm, kapalı çevrim
Maksimum Z aralığı12 µm
Dedektör gürültüsü (RMS)tip. 60 pm / maks. 100 pm
Sensör gürültüsü (Z, RMS)tip. 180 pm / maks. 250 pm
Dinamik gürültü (Z, RMS)tip. 40 pm / maks. 70 pm
Statik gürültü (Z, RMS)tip. 100 pm
Numune tablasıBütünleşik XY tablası (20 × 20 mm); motorize Z tablası (5 mm)
Numune boyutuStandart <50 mm (genişletilmiş <100 mm)
Numune yüksekliğiStandart <5 mm (gen. <10 mm / maks. <40 mm)
Numune gözlemi5 MP renkli CCD, değiştirilebilir, ayarlanabilir odak; üst ve yan görüş
AydınlatmaBeyaz LED (parlaklık %0–100), üst görüş için eksenel aydınlatma
Tarama kontrolü ve girişler24 bit ADC/DAC, 200 kHz
Dijital lock-in (2×)16 bit ADC/DAC, 20 MHz
Kullanıcı giriş/çıkış, uyarım girişi24 bit ADC/DAC, 5 MHz, 10 V
Dijital senkronizasyon2 bit satır/kare senkron çıkışı, 5 V TTL
Termal ayar10 Hz – 2 MHz
Ağırlık / boyutlar30,5 kg / 350 × 395 × 242 mm (G × D × Y)
Güç100–240 VAC, 50/60 Hz, 50 W

Kaynak: Nanosurf CoreAFM broşürü.

Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.

Bu ürünü paylaş

Detaylı Bilgi Al

Ürün hakkındaki tüm sorularınızı uzmanlarımıza sorabilirsiniz.

Nanosurf CoreAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ile ilgili haberler

Nanosurf CoreAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ile ilgili Terralab ekosistemindeki son güncellemeler aşağıdaki gibidir.

Size nasıl yardımcı olabiliriz?

Sürdürülebilir fayda.

Müşterilerimizin değer zincirlerini anlayarak, doğru tanımlanan ihtiyaçlar için doğru konfigüre edilmiş çözümler sunuyoruz. Satış ve sonrası süreçlerde 25 yıllık birikimimizi müşterilerimizin memnuniyetini oluşturmaya yanstıyoruz.

İletişim

Sizin ihtiyaçlarınızı ve amaçlarınızı özümsemek için sizi dinliyoruz.

Uzmanlık

Süreçlerinizi istediğiniz noktaya taşıyacak çözümü oluşturuyor ve sürekliliğini sağlıyoruz.

Güven

Güvenilir sonuçlara en verimli şekilde ulaştıracak rotayıbirlikte oluşturuyoruz.