Nanosurf FlexAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
FlexAFM, uç tarayıcı tasarımı ve 24 bit C3000i kontrol ünitesiyle tek atomik katman çözünürlüğünden mikrometre ölçeğindeki topografyaya kadar çalışabilen, modüler yapılı orta sınıf araştırma atomik kuvvet mikroskobudur. Otuzun üzerinde ölçüm modu, ters mikroskop entegrasyonu ve eldivenli kabin (glove-box) uyumluluğu ile ihtiyaçlarınız değiştikçe genişleyecek şekilde tasarlanmıştır.
1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisinde kullanım kolaylığını tanımlayan İsviçreli Nanosurf'ün en yaygın kullanılan araştırma platformu olan FlexAFM, yaklaşık otuz yıllık üretici deneyimini modüler donanım, açık programlama arayüzü ve DriveAFM'e yükseltilebilir mimari gibi modern beklentilerle buluşturur.
Ürün Özellikleri
Bugünkü Bütçenize, Yarınki Sorularınıza Göre Yapılandırın
FlexAFM'i temel topografya ölçümleriyle kullanmaya başlayıp elektriksel, mekanik ve mikroakışkan modülleri zaman içinde ekleyebilirsiniz. CX kontrol ünitesine geçiş, aynı zamanda DriveAFM platformuna yükseltmenin ilk adımıdır; mevcut yatırımınız yeni sistemde de karşılığını bulur.
- 24 bit C3000i kontrol ünitesi, CX kontrol ünitesine yükseltilebilir
- Otuzun üzerinde görüntüleme ve spektroskopi modu
- Harici donanım entegrasyonu için sinyal giriş/çıkış kartı
Manyetik Kantilever Tutucu ile daha Rahat Çalışın
Kompakt ve hafif gövde tek elle taşımaya uygundur; manyetik kantilever tutucu ve hizalama olukları, lazer hizalaması gerektirmeden kantilever değişimine olanak tanır. Kalın eldivenle çalışılan kontrollü atmosfer ortamlarında bu ayrıntı, ölçüm hazırlığını dakikalar mertebesinde kısaltır.
- Kendiliğinden hizalanan kantileverler, lazer hizalaması gerekmez
- Hizalama olukları ile tekrarlanabilir uç konumlandırma
- Glovebox içerisinde tek elle kullanım imkanı
Optik ve AFM Verisini Aynı Numunede Birleştirin
FlexAFM, Zeiss, Nikon, Olympus ve Leica ters mikroskoplarıyla uyumludur. Dijital Ters Mikroskop Seçeneği (DIMO) ile geçirgen ışık ve floresan görüntülemeyi doğrudan sisteme entegre edebilir, floresan işareti taşıyan bir hücreyi işaretleyip aynı noktada kuvvet ölçümü alabilirsiniz.
Nanomekanik Karakterizasyon ve Kuvvet Haritalaması
Kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu ve kuvvet haritalaması modlarıyla hücre, doku, hidrojel ve polimer numunelerde elastik modül ve yapışma kuvveti dağılımlarını haritalayabilirsiniz. Motorize XY tabla ile numunenin farklı bölgelerinde ardışık kuvvet haritaları alarak istatistiksel olarak anlamlı numune sayısına ulaşabilirsiniz.
- Kuvvet-mesafe eğrilerinden elastik modül ve yapışma kuvveti çıkarımı
- Kuvvet haritalaması ile mekanik özelliklerin uzamsal dağılımı
- Motorize tabla ve program kontrolü ile çok bölgeli otomatik ölçüm
- Yumuşak, yapışkan ve pürüzlü numunelerde tekrarlanabilir sonuç
Elektriksel ve Manyetik Özellikleri Topografyayla Birlikte Haritalayın
C-AFM, SSRM, PFM, EFM, KPFM ve MFM modlarıyla iletkenlik, yayılma direnci, piezoelektrik yanıt, yüzey potansiyeli ve manyetik domain yapısını yüzey topografyasıyla eş zamanlı ölçebilirsiniz. SMM seçeneği, minimum numune hazırlığı ile elektriksel karakterizasyon sağlar.
Otomatik Frekans Ayarı ve Program Kontrolü
Yazılım, seçtiğiniz kantileverin özelliklerine göre frekans taramasını parametre girmenize gerek kalmadan yapar. Cihaz kontrolü Python ile tamamen programlanabilir; uzun ölçüm dizilerini tanımlayıp gece boyunca çalıştırabilirsiniz.
Tek Hücre Çalışmaları için FluidFM
FlexAFM, FluidFM teknolojisinin 2011'de ilk kez sunulduğu platformdur ve bu konfigürasyonla yayımlanmış elliden fazla çalışma bulunur. Mikroakışkan kontrolü kuvvet duyarlılığıyla birleştirerek tek hücre enjeksiyonu, ekstraksiyonu ve yapışma kuvveti ölçümü yapabilirsiniz.
Uygulama Alanları
- Malzeme bilimi ve karakterizasyon: 2B malzemeler, yarı iletkenler, metaller ve piezo-aktif malzemelerde yüzey ve nanomekanik analiz
- Yaşam bilimleri ve biyoteknoloji: Biyomoleküller, canlı hücreler, tek hücre biyolojisi ve hücre-hücre etkileşimi
- Elektronik ve enerji malzemeleri: Havaya duyarlı malzemeler, pil elektrotları ve enerji depolama bileşenleri
- Korelatif mikroskopi: Floresan ve geçirgen ışık görüntülemenin AFM ölçümleriyle aynı bölgede birleştirilmesi
- Elektrokimya: EC-AFM ile elektrot yüzeylerinin in situ izlenmesi
Spesifikasyonlar
| Maksimum tarama alanı | 100 µm * (FlexAFM 10 µm sürümü: 10 µm) |
| Maksimum Z aralığı | 10 µm * (FlexAFM 10 µm sürümü: 3 µm) |
| Numune boyutu (standart / maksimum) | Numune tablası olmadan sınırsız; numune tablasıyla 100 mm |
| XY doğrusallık ortalama hatası | <%0,1 |
| XY düzlemselliği (maks. tarama alanında) | tip. 5 nm (10 µm sürümü: tip. 1 nm) |
| Dedektör bant genişliği | DC – 4 MHz |
| Dedektör gürültü seviyesi 1 | tip. 60 pm / maks. 100 pm |
| Z sensörü gürültü seviyesi (RMS) 1 | tip. 180 pm / maks. 200 pm |
| Z ölçüm gürültüsü (RMS, havada statik) | tip. 100 pm / maks. 200 pm |
| Z ölçüm gürültüsü (RMS, havada dinamik) | tip. 35 pm / maks. 50 pm |
| Maksimum Petri kabı yüksekliği | 9 mm (kaptaki sıvı seviyesi 6 mm) |
| Otomatik yaklaşma aralığı | 2 mm |
| Tarama kafası boyutları (G × Y × D) | 143 × 158 × 53 mm |
| Tarama kafası ağırlığı | 3,12 kg |
| Kontrol ünitesi | C3000i (24 bit) veya CX (28 bit) |
| Z aralığı genişletme | Harici piezo ile 150 µm'ye kadar |
| Ölçüm modları | Statik/yanal/dinamik kuvvet, faz · C-AFM, SSRM, PFM, EFM, KPFM, MFM, SMM · kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu, kuvvet haritalaması · EC-AFM, SThM · litografi ve nanomanipülasyon |
* İşaretli değerler referans niteliğindedir ve güncel üretici broşüründe yer almamaktadır: üreticinin FlexAFM-C3000 Operating Instructions V3.10R2 kılavuzunda standart FlexAFM sütunundaki tarama alanı ve Z aralığı sayıları dizgi hatası nedeniyle basılmamıştır. Verilen değerler aynı tarama kafasını kullanan Flex-Mount broşüründen alınmıştır.
1 2 kHz'de, XYContr kantilever ile ölçülmüştür. Üretim toleransı tarama alanında ±%5, Z aralığında ±%10.
Kaynak: Nanosurf FlexAFM-C3000 Operating Instructions V3.10R2 (2023-07-25) ve FlexAFM broşürü.
Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.
Detaylı Bilgi Alın
Nanosurf 25. Yıl Sempozyumu
Nanosurf’un 25. yaşını kutlamak üzere gerçekleştirilen bilimsel sempozyumda AFM dünyasının önde gelenleri Basel’de toplandı. Atomik kuvvet mikroskobunun mucitlerinden Christoph Gerber’in de yer aldığı etkinlikte AFM’nin geçmişi ve geleceği konuşuldu.
#AFM #Nanosurf25Years # ChristophGerber
Nanosurf AFM Eğitimi
Temsilcisi olduğumuz Nanosurf bünyesinde gerçekleşen eğitim ile AFM uygulamalarında profesyonelleşin!
Uluslararası Fotovoltaik Kongresi
ODTÜ GÜNAM ev sahipliğinde 5-7 Temmuz 2022 tarihlerinde gerçekleştirilen Uluslararası Fotovoltaik Kongresine katıldık.