_public.jpeg)
Nanosurf LensAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
LensAFM, optik mikroskop ve 3B optik profilometrelerin objektif taretine normal bir objektif gibi takılan atomik kuvvet mikroskobudur. Optik incelemeyle yakaladığınız bölgeyi taret çevirerek nanometre çözünürlüğünde topografya ve malzeme özelliği ölçümüne taşır; numuneyi ayrı bir cihaza aktarmanız gerekmez.
1997'den bu yana taramalı prob mikroskobunu erişilebilir kılan İsviçreli Nanosurf'ün en özgün entegrasyon çözümü olan LensAFM, mevcut mikroskop altyapısının ömrünü uzatma ve iş akışını bölmeme gibi modern laboratuvar beklentilerine karşılık verir.
Mevcut Mikroskobunuzun Çözünürlük Sınırını Aşın
Optik mikroskop, kırınım sınırının altındaki yapıları gösteremez; profilometre ise dikey çözünürlükte belirli bir eşikte kalır. LensAFM'i tarete taktığınızda, aynı numunede aynı bölgeyi nanometre çözünürlüğünde inceleyebilirsiniz. Yeni bir cihaz yatırımı yerine kullandığınız mikroskobun kapsamını genişletmiş olursunuz.
İş Akışınız Bölünmez
Numuneyi optik olarak tarar, ilgilendiğiniz bölgeyi mikroskobun kendi konumlandırma düzeneğiyle merkeze alır ve tareti çevirirsiniz. Numuneyi sökmek, başka bir cihaza taşımak ve aynı bölgeyi yeniden bulmak zorunda kalmazsınız.
- Numune konumlandırması için mikroskobun mevcut düzeneği kullanılır
- Kinematik bağlantı ile 10 µm'den iyi yerine takma doğruluğu
- Hızlı çıkarma mekanizmasıyla tarete kolay takma ve sökme
Hizalama Yok, Lazer Ayarı Yok
Hizalama olukları, kantilever değişiminden sonra uç konumunun 4 µm içinde tekrar elde edilmesini sağlar. Lazer hizalamasına gerek kalmadığından, optik mikroskop kullanmaya alışkın bir operatör ek bir AFM eğitimi almadan sistemi kullanabilir.
- Kantilever değişimi sonrası uç konumu: 4 µm içinde tekrarlanabilir
- Lazer hizalaması gerekmez
- Otomatik kantilever yaklaşması
8x Objektifle Hem Numuneyi Hem Ucu Görün
Sisteme entegre 8x objektif, numuneyi ve kantileveri aynı anda görüntülemenizi sağlar. Uç ile yüzey arasındaki ilişkiyi doğrudan izleyerek ölçüm hatalarını erken fark edebilirsiniz.
Geniş Z Aralığı ile Yüksek Yapılar
Geniş Z aralığı, yüzeyden belirgin biçimde yükselen yapıların da ölçülebilmesini sağlar. Kaplama kusurları, parçacıklar ve yükseltilmiş desenler tarama sırasında sistemin ölçüm aralığını aşmaz.
Yaygın Mikroskop Markalarıyla Uyumluluk
LensAFM, farklı taret standartlarına uygun bağlantı seçenekleriyle temin edilir.
- Zeiss / Olympus: BF RMS W20.32 × 0,706 · 45 mm
- Zeiss: DF M27 × 0,75 · 45 mm
- Olympus: DF RMS W26 × 0,706 · 45 mm
- Leica: M25 × 0,75 · 45 mm ve M32 × 0,75 · 45 mm
- Nikon: M25 × 0,75 · 60 mm ve M32 × 0,75 · 60 mm
- Mitutoyo: RMS W26 × 0,706 · 95 mm
Ölçüm Modları
Statik ve dinamik kuvvet modları, yanal kuvvet ve faz görüntülemenin yanında C-AFM, EFM ve MFM ile elektriksel ve manyetik karakterizasyon; kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu ve kuvvet haritalaması ile mekanik analiz yapabilirsiniz.
Uygulama Alanları
- Yüzey pürüzlülüğü: Optik incelemede işaretlenen bölgelerde nanometre çözünürlüklü pürüzlülük ölçümü
- Kaplama analizi: Kaplanmış yüzeylerde kusur ve tabaka kalınlığı incelemesi
- Sertlik değişimi: Kuvvet haritalaması ile yüzeydeki mekanik özellik farklarının belirlenmesi
- Manyetik malzemeler: MFM ile manyetik domain yapısının görüntülenmesi
- Elektriksel karakterizasyon: C-AFM ile iletkenlik ve direnç dağılımının haritalanması
| Maksimum tarama alanı (XY) 1,2 | 70 µm |
| Maksimum Z aralığı 1 | 14 µm |
| Z ölçüm gürültüsü (RMS, dinamik mod) 3 | tip. 90 pm |
| Otomatik numune yaklaşması | Dahili motorize paralel yaklaşma, 4,5 mm hareket |
| Parfokal mesafe | 45 veya 60 mm |
| AFM ölçüm tekrar konumlandırma hassasiyeti | ±10 µm (kantilever değişimi, tarama kafasının yeniden takılması ve yaklaşma dahil) |
| Kinematik bağlantı doğruluğu | 10 µm'den iyi |
| Kantilever değişimi sonrası uç konumu | 4 µm içinde — lazer hizalaması gerekmez |
| Optik görüş | 8× objektif — numune ve kantileverin eş zamanlı gözlemi |
| Kontrol ünitesi | C3000i |
| Bağlantı: Zeiss / Olympus | BF RMS W20.32 × 0,706 · 45 mm |
| Bağlantı: Zeiss | DF M27 × 0,75 · 45 mm |
| Bağlantı: Olympus | DF RMS W26 × 0,706 · 45 mm |
| Bağlantı: Leica | M25 × 0,75 · 45 mm | M32 × 0,75 · 45 mm |
| Bağlantı: Nikon | M25 × 0,75 · 60 mm | M32 × 0,75 · 60 mm |
| Bağlantı: Mitutoyo | RMS W26 × 0,706 · 95 mm |
| Ölçüm modları | Statik/yanal/dinamik kuvvet, faz · C-AFM, EFM, MFM · kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu, kuvvet haritalaması · litografi ve nanomanipülasyon |
1 Üretim toleransı dahildir. 2 AFM tarama yönünün 45° döndürülmesinde maksimum tarama alanı. 3 C3000i kontrol ünitesiyle, aktif titreşim izolasyonlu sabit bir masa üzerinde ve düşük gürültülü laboratuvar ortamında (klima çalışmıyorken) ölçülmüştür.
Kaynak: Nanosurf LensAFM broşürü.
Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.
Temsilcilik
Ürün grubu
Detaylı Bilgi Al
Nanosurf 25. Yıl Sempozyumu
Nanosurf’un 25. yaşını kutlamak üzere gerçekleştirilen bilimsel sempozyumda AFM dünyasının önde gelenleri Basel’de toplandı. Atomik kuvvet mikroskobunun mucitlerinden Christoph Gerber’in de yer aldığı etkinlikte AFM’nin geçmişi ve geleceği konuşuldu.
#AFM #Nanosurf25Years # ChristophGerber