Nanosurf Nanite Entegre Edilebilir Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
Nanite, 86 × 45 × 61 mm'lik çıkarılabilir tarama kafasıyla üretilmiş en küçük atomik kuvvet mikroskoplarından biridir ve özel tablalara ya da mevcut düzeneklere entegre edilmek üzere tasarlanmıştır. Küçük hacmine rağmen nanometre altı yüzey pürüzlülüğü ölçümü yapar ve numune boyutunda doğal bir sınır getirmez.
1997'de taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdırarak yola çıkan İsviçreli Nanosurf'ün minyatürleştirme yaklaşımını en uca taşıyan Nanite, üretim hattı entegrasyonu ve özel ölçüm düzenekleri gibi modern beklentilere yanıt verir.
Ürün Özellikleri
Yerleştirilemeyecek Kadar Dar Alan Kalmaz
86 × 45 × 61 mm'lik çıkarılabilir tarama kafası, klasik AFM sistemlerinin sığmadığı düzeneklere yerleşir. Mevcut bir test istasyonuna, vakum haznesine ya da özel bir üretim tezgâhına AFM kabiliyeti eklemek istediğinizde belirleyici olan çoğu zaman çözünürlük değil, fiziksel hacimdir.
- Tarama kafası boyutu: 86 × 45 × 61 mm, 3 noktalı hızlı kilit plakasıyla çıkarılabilir
- Üç tarama kafası sürümü: 110 µm, 70 µm ve 25 µm tarama alanı
- Numune boyutunda doğal sınır yok
- Nanometre altı yüzey pürüzlülüğü ölçümü
İçbükey ve Eğri Yüzeylerde Ölçüm
Küçük gövde, klasik tarama kafalarının fiziksel olarak yaklaşamadığı içbükey yüzeylere erişebilmeyi sağlar. Optik bileşenlerde ve kavisli parçalarda, numuneyi kesmeden yüzey karakterizasyonu yapabilirsiniz.
Bütünleşik Kamera ile Konum Takibi
Üst ve yan görüş kamerası, dar bir düzenek içine yerleştirilmiş olsa bile numunenin hangi bölgesinde olduğunuzu ve uç yaklaşmasını izlemenizi sağlar.
Program Arayüzü ile Düzeneğe Bağlanın
Cihaz kontrolü program arayüzü üzerinden mevcut sisteminize bağlanabilir; C3000 kontrol yazılımı LabView, Python, MatLab, C++ ve Java ile çalışabilir. Ölçümü kendi otomasyon akışınızın bir adımı hâline getirebilirsiniz.
- LabView, Python, MatLab, C++ ve Java uyumluluğu
- Otomatik frekans taraması ve Sader yöntemiyle kantilever kalibrasyonu
- Bütünleşik spektroskopi sihirbazı
Bağımsız Kullanım ve Özel Çözümler
Nanite bağımsız bir sistem olarak da yapılandırılabilir. Daha geniş mod yelpazesi ve daha yüksek çözünürlük gerektiren entegrasyonlarda Flex-Mount tarama kafası; tümüyle özel geometriler ve otomasyon gereksinimleri için Industrial Solutions uygundur.
Ölçüm Modları
Statik ve dinamik kuvvet modları ile faz görüntülemenin yanında C-AFM, EFM ve MFM ile elektriksel ve manyetik karakterizasyon; kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu ve kuvvet haritalaması ile mekanik analiz yapabilirsiniz. Litografi ve nanomanipülasyon modları da desteklenir.
Uygulama Alanları
- Hassas optik: Eğri ve içbükey optik yüzeylerde nanometre altı pürüzlülük ölçümü
- Veri depolama: Manyetik ortam yüzeylerinin karakterizasyonu
- Kalite ve süreç kontrolü: Üretim düzeneklerine entegre yüzey ölçümü
- Malzeme bilimi: Sınırlı hacimli deney düzeneklerinde yüzey karakterizasyonu
- OEM entegrasyonu: Üçüncü taraf cihazlara AFM modülü olarak yerleştirme
Spesifikasyonlar
| Tarama kafası tipi | 110 µm · 70 µm · 25 µm |
| Maksimum tarama alanı (XY) 1,2 | 110 µm · 70 µm · 25 µm |
| Maksimum Z aralığı 1 | 22 µm · 14 µm · 5 µm |
| Z ölçüm gürültüsü (statik mod) | tip. 350 pm · 350 pm · 80 pm |
| Z ölçüm gürültüsü (dinamik mod) | tip. 90 pm · 90 pm · 30 pm |
| Tarama kafası | Çıkarılabilir, 86 × 45 × 61 mm; 3 noktalı hızlı kilit montaj plakası |
| Otomatik yaklaşma aralığı | 4,5 mm (dahili optiğin odak düzleminin 1,5 mm altına kadar) |
| Üst görüş kamerası | 5 MP renkli, 1,4 mm × 1 mm · 2 µm yanal çözünürlük |
| Yan görüş kamerası | 5 MP renkli, 3,1 mm × 3,5 mm — numune ve kantilever |
| Parfokal mesafe | 45 veya 60 mm |
| Kantilever gereksinimi | Nominal uzunluk ≥225 µm, genişlik ≥40 µm |
| Numune boyutu | Tablaya bağlı — tarama kafası tarafında sınır yok |
| Ölçüm modları | Statik ve dinamik kuvvet, faz · C-AFM, EFM, MFM · kuvvet spektroskopisi, kuvvet modülasyonu, kuvvet haritalaması · litografi ve nanomanipülasyon |
| Yazılım arayüzü | C3000 kontrol yazılımı; LabView, Python, MatLab, C++ ve Java uyumlu; Sader yöntemiyle kantilever kalibrasyonu |
1 Üretim toleransı 110 µm tarama kafasında ±%10; 70 ve 25 µm tarama kafalarında ±%15. 2 45° tarama dönüşünde maksimum tarama alanı.
Kaynak: Nanosurf NaniteAFM broşürü.
Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.
Temsilcilik
Ürün grubu
Detaylı Bilgi Al
Nanosurf 25. Yıl Sempozyumu
Nanosurf’un 25. yaşını kutlamak üzere gerçekleştirilen bilimsel sempozyumda AFM dünyasının önde gelenleri Basel’de toplandı. Atomik kuvvet mikroskobunun mucitlerinden Christoph Gerber’in de yer aldığı etkinlikte AFM’nin geçmişi ve geleceği konuşuldu.
#AFM #Nanosurf25Years # ChristophGerber