Nanosurf Flex-Mount Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
Flex-Mount, özel tablalara veya mevcut düzeneklere entegre edilmek üzere tasarlanmış, araştırma sınıfı bir uç tarayıcı AFM tarama kafasıdır. FlexAFM'in çözünürlüğünü Nanite'ın entegre edilebilirliğiyle birleştirir; 100 µm tarama alanı ve 10 µm Z aralığıyla numune boyutu ya da ağırlığı sınırı olmadan büyük ve düzlemsel olmayan parçaların karakterizasyonunu sağlar.
1997'den bu yana taramalı prob mikroskopisi geliştiren İsviçreli Nanosurf'ün entegrasyon odaklı ürün ailesinin merkezinde yer alan Flex-Mount, araştırma laboratuvarı çözünürlüğünü özel ölçüm düzenekleri ve üretim ortamları gibi modern entegrasyon ihtiyaçlarına taşır.
Kendi Düzeneğinize AFM Ekleyin
Flex-Mount, motorize öteleme tablalarına ya da hâlihazırda kullandığınız ölçüm düzeneğine kolayca monte edilebilecek biçimde tasarlanmıştır. Yeni bir AFM sistemi kurmak yerine mevcut altyapınıza nanometre çözünürlüklü topografya yeteneği ekleyebilirsiniz.
- Özel tablalara ve mevcut düzeneklere monte edilebilir tasarım
- Numune ağırlığı ve boyutunda sınır yok
- Motorize öteleme tablalarıyla birlikte konumlandırma
Uç Tarayıcı: Büyük ve Eğri Yüzeylerde de Çözünürlük
Flexure tabanlı uç tarayıcı, tarayıcının numuneden bağımsız çalışmasını sağlar. Böylece düzlemsel olmayan, eğri ya da çok büyük yüzeylerde de düzlemsel ve doğrusal tarama elde edersiniz.
- 100 µm tarama alanı
- C3000i (24 bit) veya CX (28 bit) kontrol ünitesi
- Flexure tabanlı düzlemsel ve doğrusal tarayıcı
Kurulum ve Kullanımda Sadelik
Kendiliğinden hizalanan kantileverler lazer hizalaması gerektirmez; üst ve yan görüş kamerası numune konumunu ve uç yaklaşmasını izlemenizi sağlar. Düzeneğe entegre bir bileşen olarak, rutin kullanımda ayrı bir uzmanlık gerektirmez.
Geniş Mod Yelpazesi
Topografya ölçümünün yanında elektriksel ve mekanik karakterizasyon modlarını da kullanabilirsiniz; entegre edildiği düzeneğin amacına göre sistemin kapsamı genişletilebilir.
Endüstriyel Sistemlerin Ölçüm Çekirdeği
Flex-Mount, Alphacen 300 Flex sisteminin tarama kafası olarak kullanılır ve Industrial Solutions kapsamında geliştirilen özel sistemlerin ölçüm çekirdeğini oluşturur. Daha küçük hacimli entegrasyonlar için Nanite tarama kafası tercih edilir.
Uygulama Alanları
- Endüstriyel kalite kontrol: Üretim hattına entegre yüzey ölçüm istasyonları
- Büyük ve düzlemsel olmayan numuneler: Eğri optik yüzeyler ve büyük parçalarda topografya
- Malzeme bilimi: Özel numune ortamlarında yüzey ve nanomekanik karakterizasyon
- Yarı iletken analizi: Özel tabla geometrilerinde wafer ve bileşen ölçümü
- Ar-Ge düzenekleri: Mevcut ölçüm sistemlerine AFM yeteneğinin eklenmesi
| Tarama kafası tipi | 100 µm |
| Maksimum tarama alanı | 100 µm 1 |
| Maksimum Z aralığı | 10 µm 2 |
| XY düzlemselliği (maks. tarama alanında) | tip. 5 nm |
| Dedektör bant genişliği | DC – 4 MHz |
| Dedektör gürültü seviyesi | tip. 60 pm / maks. 100 pm 3 |
| Z sensörü gürültü seviyesi (RMS) | tip. 180 pm / maks. 200 pm 3 |
| Z ölçüm gürültüsü (RMS, statik) | tip. 100 pm / maks. 200 pm |
| Z ölçüm gürültüsü (RMS, dinamik) | tip. 35 pm / maks. 50 pm |
| Motorize yaklaşma aralığı (uç konumunda) | 50 mm |
| Tarama kafası boyutları (z tablası dahil) | 181 mm × 130 mm × 171 mm · ±25 mm |
| Tarama kafası ağırlığı (z tablası dahil) | 4,7 kg |
| Numune boyutu | Tablaya bağlı — tarama kafası tarafında sınır yok |
| Tarayıcı | Flexure tabanlı uç tarayıcı; optik Z konum sensörü; kapalı çevrim Z kontrolü |
| Lazer / dedektör | Yüksek hızlı, düşük gürültülü 4 bölgeli fotodiyot; yakın kızılötesi SLD; yazılımdan lazer aç/kapa |
| Kantilever tutucu | Hizalama oluklu kantileverler için otomatik kendiliğinden hizalama |
| Kontrol ünitesi | C3000i (24 bit) veya CX (28 bit) |
| Güvenlik çıkışı (opsiyonel) | Tarama kafası çarpmasını ve numune hasarını önleyen güvenlik mekanizması |
1 Üretim toleransı ±%5. 2 Üretim toleransı ±%10. 3 2 kHz'de ölçülmüştür.
Kaynak: Nanosurf Flex-Mount broşürü.
Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.
Temsilcilik
Ürün grubu
Detaylı Bilgi Al
Nanosurf 25. Yıl Sempozyumu
Nanosurf’un 25. yaşını kutlamak üzere gerçekleştirilen bilimsel sempozyumda AFM dünyasının önde gelenleri Basel’de toplandı. Atomik kuvvet mikroskobunun mucitlerinden Christoph Gerber’in de yer aldığı etkinlikte AFM’nin geçmişi ve geleceği konuşuldu.
#AFM #Nanosurf25Years # ChristophGerber
Nanosurf AFM Eğitimi
Temsilcisi olduğumuz Nanosurf bünyesinde gerçekleşen eğitim ile AFM uygulamalarında profesyonelleşin!