Nanosurf NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
NaioAFM, tarayıcı, kontrol ünitesi, XY tablası, hava akımı koruması ve titreşim izolasyon ayaklarını tek gövdede birleştiren, giriş seviyesi bütünleşik atomik kuvvet mikroskobudur. Kurulumu dakikalar sürer, kantilever değişimi lazer veya dedektör hizalaması gerektirmez; temel araştırma ve nano-eğitim uygulamalarında öğrencilerin ilk AFM deneyimi için tasarlanmıştır.
1997'de taramalı prob mikroskobunu laboratuvar tezgâhına sığdırarak yola çıkan İsviçreli Nanosurf'ün bu yaklaşımını en saf hâliyle sürdüren NaioAFM, sınırlı laboratuvar alanı, deneyimsiz kullanıcılar ve ders saatine sığması gereken deneyler gibi modern eğitim beklentilerine karşılık verir.
Ders Saatine Sığan Bir AFM Deneyi
Sistemi kutusundan çıkarıp ölçüm alana kadar geçen süre dakikalarla ölçülür. Kurulum, hizalama ve kalibrasyon için bir ders saatinin tamamını harcamak yerine, öğrencilerin gerçekten ölçüm yapmasına zaman kalır.
- Bütünleşik kontrol ünitesi ve titreşim izolasyon platformu
- Hava akımı koruması gövdeye dahil
- 12 mm XY tablası
Deneyimsiz Ellerde de Güvenli Kantilever Değişimi
Kantilever hizalama çipi, sabit bir el gerektirmeden kantileverin doğru konuma yerleşmesini sağlar. Lazer ve dedektör hizalaması yapılmadığından, ilk kez AFM kullanan bir öğrenci sistemin en hassas adımında hata yapma riski taşımaz.
- Hizalama çipi ile kolay kantilever yerleştirme
- Lazer veya dedektör hizalaması gerekmez
- Seçilen kantilevere göre otomatik frekans taraması
Kamerayla Ne Taradığınızı Görün
Yüksek çözünürlüklü üst ve yan görüş kamerası, numunenin hangi bölgesini taradığınızı ve uca ne kadar yaklaştığınızı gösterir. Eğitim ortamında bu görüntü, ölçümün soyut kalmasını engeller.
Temelden İleri Modlara Genişleyin
Sistem, üç boyutlu topografya, faz kontrastı, film ve tabaka kalınlığı ölçümleri ile kesit analizleri için doğrudan kullanılabilir. Temel spektroskopi ve litografi özelliklerinin yanında taramalı tünelleme mikroskopisi (STM), iletkenlik ölçümleri, kuvvet haritalaması ve ileri spektroskopi modları eklenerek kapsam genişletilebilir.
- Statik ve dinamik kuvvet modları, faz görüntüleme
- Manyetik kuvvet mikroskopisi (MFM), elektrostatik kuvvet mikroskopisi (EFM), iletken AFM (C-AFM)
- Kuvvet spektroskopisi ve kuvvet haritalaması
- Litografi ve nanomanipülasyon
Eğitimden Araştırmaya Geçiş Yolu
NaioAFM ile temel AFM pratiğini kazanan ekipler, daha geniş numune ve mod yelpazesi gerektiğinde CoreAFM veya FlexAFM araştırma sistemlerine geçebilir. Atomik çözünürlükte tünelleme çalışmaları için NaioSTM aynı kullanım kolaylığını taramalı tünelleme mikroskopisine taşır.
Uygulama Alanları
- Nano-eğitim: Üniversite lisans ve lisansüstü derslerinde uygulamalı AFM eğitimi
- Temel araştırma: Küçük numunelerde topografya, faz ve kuvvet ölçümleri
- Malzeme karakterizasyonu: İnce film, kaplama ve tabaka kalınlığı ölçümleri
- Öğrenci projeleri: Sınırlı süre ve bütçeyle yürütülen bitirme ve tez çalışmaları
- Gösterim ve tanıtım: AFM yeteneklerinin taşınabilir bir sistemle sergilenmesi
| Maksimum tarama alanı / yüksekliği (çözünürlük) 1 | 70 µm (1,0 nm) / 14 µm (0,2 nm) |
| Statik / dinamik RMS Z gürültüsü | tip. 0,4 nm (maks. 0,8 nm) / tip. 0,3 nm (maks. 0,8 nm) |
| Maksimum numune boyutu / yüksekliği | 12 mm / 3,5 mm |
| Numune tablası konumlandırma aralığı | X ve Y'de 12 mm hareket |
| Üst görüş kamerası | 1,5 × 1 mm görüş alanı · 2 µm optik çözünürlük · 5,0 MP renkli CMOS · 4× dijital yakınlaştırma · eksenel LED |
| Yan görüş gözlemi | 5 × 5 mm görüş alanı, ayarlanabilir LED aydınlatma (opsiyonel kamera: 2 × 2 mm, 1,3 MP monokrom CMOS) |
| Yaklaşma | 4 mm doğrusal motor |
| Spektroskopi modları | Kuvvet–mesafe, genlik–mesafe, gerilim–mesafe |
| İleri spektroskopi modları | Akım–gerilim, bitiş değerinde durdurma, ileri/geri bekletme, kantilever kalibrasyonu |
| Litografi modları | CAD vektör çizimi ve bitmap görüntü yükleme |
| Görüntüleme modları | Statik ve dinamik kuvvet, faz · MFM, EFM, C-AFM · kuvvet spektroskopisi ve kuvvet haritalaması · litografi ve nanomanipülasyon · STM (opsiyonel) |
| Boyut (U × G × Y) / ağırlık | 204 × 204 × 145 mm / 6,5 kg |
| Güç | 100–240 VAC, 50/60 Hz |
| Bilgisayar gereksinimi | Windows 7 veya üzeri (32/64 bit), 1280 × 1024 ekran, Core 2 işlemci, 4 GB RAM, 1 boş USB |
1 Üretim toleransı dahildir.
Kaynak: Nanosurf NaioAFM broşürü. Broşürde güç tüketimi iki ayrı satırda 30 W ve 50 W olarak geçtiği için değer tabloya alınmamıştır.
Spesifikasyonlar önceden bildirilmeksizin değiştirilebilir; projenize uygun konfigürasyon ve güncel değerler için bizimle iletişime geçin.
Temsilcilik
Ürün grubu
Detaylı Bilgi Al
Nanosurf 25. Yıl Sempozyumu
Nanosurf’un 25. yaşını kutlamak üzere gerçekleştirilen bilimsel sempozyumda AFM dünyasının önde gelenleri Basel’de toplandı. Atomik kuvvet mikroskobunun mucitlerinden Christoph Gerber’in de yer aldığı etkinlikte AFM’nin geçmişi ve geleceği konuşuldu.
#AFM #Nanosurf25Years # ChristophGerber